松井 敏明 | 通信総合研究所
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概要
関連著者
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松井 敏明
通信総合研究所
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松井 敏明
情報通信研究機構ミリ波デバイスグループ
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松井 敏明
独立行政法人情報通信研究機構先端ictデバイスグループ
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三村 高志
(株)富士通研究所
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篠原 啓介
通信総合研究所 無線通信部門 ミリ波デバイスG
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彦坂 康己
富士通研究所
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篠原 啓介
情報通信研究機構
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篠原 啓介
情報通信研究機構:(現)hrl Laboratories Llc
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篠原 啓介
通信総合研究所
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遠藤 聡
独立行政法人情報通信研究機構先端ICTデバイスグループ
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山下 良美
独立行政法人情報通信研究機構先端ICTデバイスグループ
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冷水 佐壽
大阪大学大学院基礎工学研究科
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冷水 佐壽
大阪大学大学院基礎工学研究科:(現)奈良高等工業専門学校
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李 可人
(独)情報通信研究機構
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李 可人
通信総合研究所
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東脇 正高
通信総合研究所 無線通信部門 ミリ波デバイスG
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東脇 正高
独立行政法人情報通信研究機構
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東脇 正高
カリフォルニア大 サンタバーバラ校
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遠藤 聡
富士通研究所
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山下 良美
富士通研究所
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三村 高志
富士通研究所
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清川 雅博
通信総合研究所 無線通信部門 ミリ波デバイスG
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安田 浩朗
通信総合研究所 無線通信部門 ミリ波デバイスG
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広瀬 信光
独立行政法人情報通信研究機構先端ICTデバイスグループ
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村田 正望
通信総合研究所 無線通信部門 ミリ波デバイスG
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広瀬 信光
通信総合研究所 無線通信部門 ミリ波デバイスG
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松井 敏明
情報通信研究機構
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彦坂 康己
富士通株式会社
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山下 良美
富士通株式会社
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遠藤 聡
富士通株式会社
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三村 高志
富士通株式会社
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冷水 佐壽
大阪大学基礎工学部
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松井 敏明
独立行政法人 情報通信研究機構
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渡邊 一世
独立行政法人情報通信研究機構先端ICTデバイスグループ
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笠松 章史
(独)情報通信研究機構
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笠松 章史
通信総合研究所
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湯 建輝
通信総合研究所無線通信部門
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松井 敏明
通信総合研究所 無線通信部門 ミリ波デバイスg
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池田 圭司
半導体MIRAIプロジェクト, 技術研究組合 超先端電子技術開発機構(MIRAI-ASET)
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池田 圭司
半導体miraiプロジェクト 技術研究組合 超先端電子技術開発機構(mirai-aset)
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池田 圭司
富士通研究所
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湯 建輝
University College London
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笠松 章史
独立行政法人情報通信研究機構
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笠松 章史
情報通信研究機構
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渡邊 一世
大阪大学大学院基礎工学研究科
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赤池 正巳
東京理科大学工学部電気工学科
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井筒 雅之
通信総合研究所
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井筒 雅之
(独)情報通信研究機構
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栗田 大輔
東京理科大学
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歌川 仁史
通信総合研究所
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程 崇虎
通信総合研究所 基礎先端部門
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歌川 仁史
独立行政法人情報通信研究機構
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彦坂 康己
(株)富士通研究所
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栗田 大輔
東京工業大学
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遠藤 聡
富土通研究所
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山下 良美
富土通研究所
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彦坂 康己
富土通研究所
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三村 高志
富土通研究所
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河西 和美
(株)富士通研究所
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栗田 大輔
東京工業大学:独立行政法人情報通信研究機構
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赤池 正己
東京理科大学工学部電気工学科
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赤池 正巳
東京理科大学工学部
著作論文
- UWBシステムとその装置化における課題
- SA-3-9 UWB アンテナ特性の周波数領域・時間領域測定
- B-1-244 背面給電共平面パッチアンテナ
- ミリ波通信システムの技術動向と要素技術
- B-1-92 共平面パッチアンテナ
- RF-MBE法によるサファイア基板上の高品質InN薄膜成長 : 低温成長InN/GaNバッファー層の効果(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- RF-MBE法によるサファイア基板上の高品質InN薄膜成長 : 低温成長InN/GaNバッファー層の効果(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状、及び一般)
- 極微細ゲートGaN系HEMTの作製とそのショットキー特性の改善(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス)
- ミリ波通信システムの技術動向と要素技術
- ミリ波通信システムの技術動向と要素技術
- C-10-2 ロードプル法で評価した量子バリアバラクダの3逓倍波発生特性
- 極微細ゲートGaN系HEMTの作製とそのショットキー特性の改善(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス)
- [Invited]InP系HEMTの超高速化技術 : サイドリセス構造最適化および寄生抵抗低減の効果(AWAD2003 : 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショツプ)
- [Invited]InP系HEMTの超高速化技術 : サイドリセス構造最適化および寄生抵抗低減の効果(AWAD2003(先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ))
- 極微細ゲートInP系HEMTの超高速化技術
- 極微細ゲートInP系HEMTの超高速化技術
- C-10-6 イオン注入S/Dを用いたサブ100nm SiGe-HEMT
- 超高速InP-HEMTにおけるゲートリセス構造の影響 : 非対称リセス構造の作製と特性評価
- 超高速InP-HEMTにおけるゲートリセス構造の影響 : 非対称リセス構造の作製と特性評価
- 超高速InP-HEMTにおけるゲートリセス構造の影響 : 非対称リセス構造の作製と特性評価