プロセスばらつきを考慮した低電圧動作混合連想度キャッシュ構造(低電圧・高信頼SRAM,低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
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概要
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本論文では、キャッシュのインデックスごとに様々な連想度を取ることによってプロセスばらつきに対応する低電圧キャッシュ構造を提案する。提案キャッシュでは、プロセスばらつきの影響による故障ブロックがキャッシュ内でランダムに分布することに着目し、故障ブロックのみを7T/14T SRAMの回復機構を用いて回復させる。それにより、従来のウェイごと、あるいはキャッシュ全体における一様な回復手法と比べ、面積オーバヘッド、容量オーバヘッドを削減でき、より効率的に低電圧動作を得ることができる。65nmプロセスで試作した実チップの測定結果、7.81%の容量オーバヘッド、5.22%の面積オーバヘッドのみで80mVの動作電圧削減効果を確認した。
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-07-26
著者
-
吉本 雅彦
三菱電機株式会社システムLSI開発研究所
-
奥村 俊介
神戸大学
-
中田 洋平
神戸大学システム情報学研究科
-
吉本 雅彦
神戸大学システム情報学研究科|独立行政法人科学技術振興機構 Crest
-
奥村 俊介
神戸大学システム情報学研究科
-
中田 洋平
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
川口 博子
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
吉本 雅彦
金沢大学工学部
-
吉本 雅彦
神戸大学システム情報学研究科:独立行政法人科学技術振興機構 Crest
-
奥村 俊介
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
川口 博
神戸大学大学院
-
吉本 雅彦
神戸大学大学院
-
鄭 晋旭
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
吉本 雅彦
神戸大学大学院システム情報学研究科:独立行政法人科学技術振興機構,CREST
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