2.5 耐ソフトエラーSRAMレイアウト(第2章:放射線によるソフトエラー,<特集>ディペンダブルVLSIシステム)
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概要
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- 日本信頼性学会の論文
- 2013-12-01
著者
-
吉本 雅彦
三菱電機株式会社システムLSI開発研究所
-
奥村 俊介
神戸大学
-
吉本 雅彦
神戸大学
-
吉本 雅彦
神戸大学システム情報学研究科|独立行政法人科学技術振興機構 Crest
-
奥村 俊介
神戸大学システム情報学研究科
-
川口 博子
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
吉本 雅彦
金沢大学工学部
-
吉本 雅彦
神戸大学システム情報学研究科:独立行政法人科学技術振興機構 Crest
-
和泉 慎太郎
神戸大学
-
天下 卓郎
神戸大学工学部システム情報学研究科
-
川口 博
神戸大学
-
吉本 秀輔
神戸大学
-
吉本 雅彦
神戸大学大学院システム情報学研究科:独立行政法人科学技術振興機構,CREST
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