吉本 秀輔 | 神戸大学

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概要

• 同名の論文著者
• 神戸大学の論文著者

関連著者

• 奥村 俊介

  神戸大学

• 吉本 雅彦

  神戸大学

• 川口 博

  神戸大学

• 吉本 秀輔

  神戸大学

• 吉本 雅彦

  三菱電機株式会社システムLSI開発研究所

• 吉本 雅彦

  神戸大学システム情報学研究科|独立行政法人科学技術振興機構 Crest

• 奥村 俊介

  神戸大学システム情報学研究科

• 川口 博子

  神戸大学大学院システム情報学研究科

• 吉本 雅彦

  金沢大学工学部

• 吉本 雅彦

  神戸大学システム情報学研究科:独立行政法人科学技術振興機構 Crest

• 吉本 雅彦

  神戸大学大学院システム情報学研究科:独立行政法人科学技術振興機構,CREST

• 川口 博

  神戸大学 工学部 情報知能工学科

• 川口 博

  神戸大学システム情報学研究科

• 吉本 秀輔

  神戸大学システム情報学研究科

• 和泉 慎太郎

  神戸大学

• 川口 博

  神戸大学大学院工学研究科

• 中田 洋平

  神戸大学システム情報学研究科

• 鍵山 祐輝

  神戸大学システム情報学研究科

• 柳田 晃司

  神戸大学大学院システム情報学研究科

• 中田 洋平

  神戸大学

• 北原 佑起

  神戸大学

• 鍵山 裕輝

  神戸大学

• 柳田 晃司

  神戸大学

• 天下 卓郎

  神戸大学工学部システム情報学研究科

• 吉本 雅彦

  神戸大学:科学技術振興機構(JST CREST)

• 北原 佑起

  神戸大学大学院工学研究科

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著作論文

• C-12-3 温度変化を考慮したSRAMのBER導出手法の検討(C-12.集積回路,一般セッション)
• SRAMセルを用いたLow書込みによるチップID生成手法(メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
• 2.5 耐ソフトエラーSRAMレイアウト(第2章:放射線によるソフトエラー,ディペンダブルVLSIシステム)
• SRAMセルを用いたLOW書込みによるチップID生成手法

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