システムレベル故障注入技術を用いたディペンダブルプロセッサアーキテクチャの評価・検証(テスト設計2,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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トランジスタデバイスレベルのSRAMシミュレーションを元にSRAM故障をモデル化し,システムレベルの検証環境における故障注入システム(Fault Injection System(FIS))に注入するためのメモリ故障を生成するFault Case Generator(FCG)を開発した.PCGを統合したFISを用いて7T/14TディペンダブルSRAMを内蔵メモリに用いたプロセッサの異常終了率を評価し,従来の6T SRAMを用いたプロセッサと比較して,システムレベルで信頼性の改善効果があることを確認した.
- 2010-11-22
著者
-
吉本 雅彦
三菱電機株式会社システムLSI開発研究所
-
川口 博
神戸大学大学院工学研究科
-
吉本 雅彦
神戸大学大学院自然科学研究科
-
中田 洋平
神戸大学システム情報学研究科
-
川口 博
神戸大学システム情報学研究科
-
吉本 雅彦
神戸大学システム情報学研究科|独立行政法人科学技術振興機構 Crest
-
勝 康夫
株式会社日立製作所中央研究所
-
中田 洋平
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
伊藤 康宏
日立製作所中央研究所
-
勝 康夫
日立製作所中央研究所
-
於保 茂
日立製作所中央研究所
-
川口 博子
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
吉本 雅彦
神戸大学大学院システム情報学研究科:独立行政法人科学技術振興機構 Crest
-
吉本 雅彦
金沢大学工学部
-
勝 康夫
(株)日立製作所中央研究所
-
吉本 雅彦
神戸大学システム情報学研究科:独立行政法人科学技術振興機構 Crest
-
川口 博
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
吉本 雅彦
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
伊藤 康宏
日立製作所 中央研究所
-
於保 茂
日立製作所 中央研究所
-
川口 博
神戸大学大学院
-
吉本 雅彦
神戸大学大学院
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