ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(21)
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概要
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著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた.本論文では,改良した微摺動機構を用いて,市販の電子回路基板上で用いられるコネクタに対して,オスコネクタとメスコネクタとの間に相対変位を起こさせる周期振動を与えたときの,接触電圧の時系列変動に関して検討した.実験条件は,機構への入力波形(矩形波・正弦波)・機構の摺動振幅(±7.8μmから±1.2μm)・オスピンおよびメスピン間摩擦力(1.6N/pin,1.0N/pinおよび0.3N/pin)とした.これより,電気接点の抵抗における変動を起こす摺動振幅には下限的臨界点が存在することが示唆された.また,この臨界値には入力波形・摺動振幅・ピン間摩擦力が相関していることが示唆されて.さらに,この接触電圧の時系列変動には非線形要素関連していることが示唆されるので,今後,入出力特性に関してさらに精密な検討が必要であることも示された.
- 2012-05-18
著者
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
和田 真一
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
ノロブリン サインダー
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
澤 孝一郎
慶應大学:日本工業大学
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
柳 国男
TMCシステム
-
益田 直樹
TMCシステム株式会社
-
石黒 明
TMCシステム株式会社
-
澤 孝一郎
日本工大 工
-
ノロブリン サインダー
TMCシステム株式会社
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社市場開発本部
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社
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