ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その4)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
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概要
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著者らは,電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,総回数約4200万回の実験を行った.開始後,接触抵抗値が上昇し約200Ωとなった.この傾向は実験終了まで持続した.次に,コネクタの接触圧を小さくし総回数約4400万回の実験を行った.開始後,接触抵抗値が上昇し600-1000Ωとなった.開発した摺動機構による総回数約2400万回の実験を行った.開始後,接触抵抗値が上昇し約200Ωとなった.さらに,ハンマリング加振機構のデータを入力として3次元加振機構に擬似減衰振動を発生させ,総回数約600万回の実験を行った.これら3方式は,動作原理・操作方法・操作回数等に相違があるものの,得られた測定結果には振動現象における類似点が見られた.これらの接触抵抗値変動に対してFretting Corrosionモデルを適用し検討することで,微小振動が接触抵抗に与える影響について考察できる可能性が示唆された.
- 2009-02-13
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