ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動接触機構との比較(トライボロジー/一般)
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概要
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電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構では,加振回数が約250万回超の頃から,換算接触抵抗値が増加傾向となり,約400万回超からは,200Ωを超えるときが増えた.700万回からは,最大値約570Ωから最小値約175Ωの間を変動した。一方、比較として、摺動接触機構を持つ装置を試作し、連続摺動によって電気接点の劣化現象を測定することができた.摺動回数1.7万回超の頃から,接触抵抗値が増加傾向となり,換算接触抵抗値が,最大値約250Ωから最小値約20Ωの間を変動した。2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた.
- 2007-10-12
著者
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
和田 真一
TMCシステム
-
園田 健人
TMCシステム
-
菊地 光男
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
天尾 裕士
TMCシステム
-
高橋 康夫
Tmc System Co. Ltd.
-
古賀 圭
慶応義塾大学理工学部
-
天尾 裕士
Tmcシステム(株)
-
高橋 康夫
TMCシステム(株)
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