ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(16)(放電,EMC/一般)
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概要
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著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.本論文では,まず,微摺動機構の改良を行った.次に,加振機構の特性を調べ,微小な往復摺動を電気接点に与えうることを確認した.さらに,本機構によって引き起こされた電気接点における劣化現象について検討を行った.結果,本機構の固有振動数および減衰係数比を推算し,さらに本機構によって接点劣化を引き起こすことのできる往復摺動振幅には下限があることを示唆した.
- 2011-07-08
著者
-
澤 孝一郎
日本工業大学
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
和田 真一
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
ノロブリン サインダー
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
小田部 正能
TMCシステム(株)
-
ノロブリン サインダー
Tmcシステム(株)
-
澤 孝一郎
慶應大学:日本工業大学
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学理工学部
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
慶応大
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学理工学部電気工学科
-
柳 国男
TMCシステム
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部
-
澤 孝一郎
慶応義塾大学:日本工業大学
-
川述 真裕
TMCシステム
-
小田部 正能
Tmcシステム
-
益田 直樹
TMCシステム株式会社
-
石黒 明
TMCシステム株式会社
-
澤 孝一郎
日本工大 工
-
澤 孝一郎
日本工業大学:慶応義塾大学
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社市場開発本部
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社
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