ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(15)
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概要
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著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.本論文では加振機構のうち,ハンマリング加振機構および微摺動機構を用い,これらの加振機構の特性およびこれらによって引き起こされた電気接点における接触抵抗の変動特性について検討を行った.これらの加振機構は,その加振原理がそれぞれハンマリングおよびスライディングという相違があるものの,電気接点に与える影響については,固有振動数および減衰振動比などにおいて共通の特性があることが示唆された.
- 2011-05-13
著者
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澤 孝一郎
日本工業大学
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沢 孝一郎
慶應義塾大学
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澤 孝一郎
慶応義塾大
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沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
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和田 真一
TMCシステム
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越田 圭治
TMCシステム
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ノロブリン サインダー
TMCシステム
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久保田 洋彰
TMCシステム
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小田部 正能
TMCシステム(株)
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ノロブリン サインダー
Tmcシステム(株)
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澤 孝一郎
慶應義塾大学大学院
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沢 孝一郎
慶應義塾大学理工学部
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澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
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澤 孝一郎
慶応大
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澤 孝一郎
慶應義塾大学理工学部電気工学科
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澤 孝一郎
日本工業大学工学部
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澤 孝一郎
慶応義塾大学:日本工業大学
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川述 真裕
TMCシステム
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小田部 正能
Tmcシステム
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澤 孝一郎
日本工大 工
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澤 孝一郎
日本工業大学:慶応義塾大学
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越田 圭治
TMCシステム株式会社
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