タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(2)
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概要
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著者らは,専用のステージが必要なく,また,ある程度の定量性をもつ,ハンディな"タッピング・デバイス(TPD)"を開発し試作した.本デバイスによれば,実施者の特殊な技量によらず被加振物に対して定荷重・定エネルギーで加振できることが示唆された.さらに,数学的および数値解析的モデルを構築し実証することで,本デバイスの動作特性を解析することが可能であることが示された.
- 2011-01-21
著者
-
澤 孝一郎
日本工業大学
-
久我 宣裕
横浜国立大学大学院工学府
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
和田 真一
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
ノロブリン サインダー
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
小田部 正能
TMCシステム(株)
-
ノロブリン サインダー
Tmcシステム(株)
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学理工学部電気工学科
-
久我 宣裕
横浜国立大学大学院
-
澤 孝一郎
慶応義塾大学:日本工業大学
-
川述 真裕
TMCシステム
-
小田部 正能
Tmcシステム
-
久我 宣裕
横浜国立大学 工学部
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社
-
久我 宣裕
横浜国立大学
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