ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(28)(放電,実装,EMC,一般)
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概要
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著者らは,ハンマリング加振機構によって,電気接点に実際の環境と類似した振動を加えることのできる機構を設計・開発し,さらにこれを用いた微小振動の影響に関する解析を行ってきた.この過程で基本的力学パラメータ評価が必要となり,加振過渡状態における簡便でかつ実際的な新しい評価方法を提案する.基板上の電子デバイスのように比較的軽量な対象物を解析するのに必要な基本力学パラメータを有効質量,有効加振力,そして有効加速度とし,これらを加速度測定値のみから推算する実際的な方法論を提案する.ハンマリング加振機構を用いて,有効質量,有効加振力,および有効加速度の基板上の分布を計算および推算する.またこれらの力学パラメータに加えて付加質量パラメータを導入し,おもり落下システムにより付加質量の影響および上記力学パラメータの妥当性を検討する.さらに,準定常状態における,上記評価方法(1)を補完する,固有角振動数および減衰比を用いた,新しい評価方法(2)を提案する.
- 2013-07-05
著者
-
澤 孝一郎
日本工業大学
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
和田 真一
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
サインダー ノロブリン
Tmcシステム株式会社
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