電磁コンダクタにおけるCu系接点材料の諸特性(卒論・修論特集(ショートノート))

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概要

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電磁コンダクタを連続開閉させた実験について報告する。前回はAgNi接点の、閉成時のみにアークを発生させた実験結果を報告した。今回はCu系接点としてCu接点とCuCr接点を使用し、アーク継続時間、接触抵抗、アークエネルギー、および電極質量の変化量などの諸特性を明らかにした。アーク放電は閉成時のみ、開離時のみ、および閉成時と開離時の両方の3種類を発生させた。電源電圧は100V、電流は5A一定とし、開閉周期1秒で10万回までの連続開閉を行った。10万回以前に接触不良などが発生した場合はそこで実験を終了した。その結果、接触抵抗は閉成時アークのみの場合は低く、開閉時ともにアークが発生する場合は高くなった。またアーク継続時間は閉成時のみが短くなり、開離時のみが長くなった。さらに閉成時のみのアークではCu,CuCr接点ともに陽極側に凹みが生じ、陰極側には突起ができた。これはAgNi接点と同様であった。
2013-02-22

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