吉田 清 | 日本工業大学
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
吉田 清
日本工業大学
-
吉田 清
日本工大 工
-
高橋 篤夫
前・日本工業大学
-
高橋 篤夫
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
高橋 篤夫
日本工業大学
-
澤 孝一郎
日本工業大学
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
鈴木 健司
富士電機機器制御(株)
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
代島 英樹
富士電機機器制御(株)
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学
-
澤 孝一郎
慶応大
-
澤 孝一郎
日本工大 工
-
澤 孝一郎
慶應大学:日本工業大学
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学理工学部
-
渡邊 勝昭
富士電機機器制御(株)
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学理工学部電気工学科
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部
-
澤 孝一郎
日本工業大学:慶応義塾大学
-
福地 一博
日本工業大学電気電子工学科
-
菅波 良征
日本工業大学
-
高谷 幸悦
富士電機機器制御(株)
-
関口 君則
日本工業大学電気電子工学科
-
谷本 直
日本工大
-
山田 直迪
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
孫 震山
(株)名和
-
山田 直迪
日本工業大学
-
吉田 清
川崎医科大学循環器内科
-
谷本 直
日本工業大学
-
孫 震山
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
吉田 和樹
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
黒坂 竜也
日本工業大学電気電子工学科
-
澤 孝一郎
慶応義塾大学:日本工業大学
-
吉田 清
川崎医科大学内科循環器部門
-
吉田 和樹
日本工業大学
-
黒坂 竜也
日本工業大学
-
山田 直迪
日本工業大学 工学部 電気電子工学科
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
高木 相
東北大学
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学
-
玉井 輝雄
三重大
-
澤 孝一郎
慶大
-
渡辺 克忠
工学院大
-
谷口 正成
東北文化大
-
若月 昇
石巻専修大
-
長谷川 誠
千歳科技大
-
服部 康弘
オートネットワーク研
-
小林 達郎
沖センサデバイス
-
渡辺 克忠
工学院大学工学部電気システム工学科准教授
-
関 雄一郎
日本工業大学
-
堂ノ浦 修平
日本工業大学
-
豊田 貴也
日本工業大学
-
谷口 正成
東北文化学園大学
-
高木 相
東北大学:東北文化学園大学科学技術学部
-
高木 相
東北文化学園大学
-
井上 浩
秋田大
-
井上 浩
秋田大:機構デバイス研究専門委員会
-
谷口 正成
東北文化学園大学科学技術学部知能情報システム学科
-
谷口 正成
東北文化学園大学科学技術学部応用情報工学科
-
張 春澤
日本工業大学
-
久保田 剛行
日本工業大学
-
當山 孝義
日本工業大学
-
大堀 英之
日本工業大学
-
玉井 輝雄
三重大:機構デバイス研究専門委員会
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
-
小林 達郎
沖センサデバイス:機構デバイス研究専門委員会
-
長谷川 剛史
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
玉置 寿文
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
益田 尚記
日本工業大学 工学部 電気電子工学科
-
守屋 悠輔
日本工業大学 工学部 電気電子工学科
-
渡邉 裕之
日本工業大学 工学部 電気電子工学科
-
高木 相
東北大
-
玉置 寿文
日本工業大学電気電子工学科
-
坂田 徳之
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
小倉 佑太
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
若月 昇
石巻専修大理工
-
高木 相
東北大学 工学部 通信工学科
-
鈴木 貴史
日本電気株式会社
-
當山 孝義
日本工業大学電気電子工学科
-
鈴木 貴史
日本工業大学
-
中村 真
ダイダン株式会社技術開発本部
-
戸枝 主基
日本工業大学
-
高木 相
東北大学工学部
-
玉井 輝雄
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
玉置 寿文
日本工業大学
-
若月 晃
石巻専修大学理工学部情報電子工学科
-
木田 智也
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
富高 亘
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
中村 真
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
杉山 知寛
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
日本工業大学:慶応大学
-
吉田 清
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
日本工業大学:慶應義塾大学
-
澤 孝一郎
日本工業大学:慶応大学名誉教授
-
米嶋 大介
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
大山 峻
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
代島 英樹
富士電機機器制御株式会社
-
杉山 知寛
日本工業大学 工学部 電気電子工学科
著作論文
- 第24回電気接点に関する国際会議ICEC2008(フランス)概要報告(トライボロジ・一般)
- リレーに搭載されたコンタクトの連続開閉時のアーク継続時間と接触抵抗の計測(ショートノート(卒論・修論特集))
- 電気二重層キャパシタ(NSC)を搭載した小型電気自動車について : 直並列接続したキャパシタの充放電特性
- 周囲雰囲気がコンタクト開離時アークのガス相移行に与える影響について(放電・EMC/一般)
- SC-3-1 リレー搭載コンタクトのガス相移行と接触抵抗との関連
- リレー搭載コンタクトにおける連続開閉時のアーク継続時間と接触抵抗との関連について
- C-5-2 Pdコンタクト開離時アークのガス相移行とブリッジ現象との関連について : 閉成時電流の増加時と減少時の比較
- 銀系コンタクト開離時アークの継続時間と接触抵抗の自動計測
- C-5-7 2台の分光器を用いた開離時アークの分光測定 : AgCdOコンタクトのスペクトル強度
- Pdコンタクト開離時アークのガス相移行とブリッジ現象との関連について
- C-5-10 AgCdOコンタクト開離時アークのガス相移行とブリッジ現象との関連について
- Pdコンタクト開離時アークのガス相移行境界について : スペクトル強度との関連
- C-5-3 Agコンタクト開離時アークのガス相移行とブリッジ現象との関連について
- Agコンタクト開離時アークのガス相移行と再ブリッジ発生との関連について
- コンタクト開離時アーク放電の分光測定 : Agアークの平均スペクトル強度の測定
- 銀系コンタクト開離時アークのガス相移行について : 開離速度の影響
- コンタクト開離時アーク放電の分光測定(その7) : Pdアークの温度測定
- Wコンタクト開離時アークのガス相移行と平均スペクトル強度との関連について
- D-12-115 自走ロボットのためのFG視覚センサ
- C-5-2 開離時アークのガス相移行と接触抵抗との関連について : WとPdコンタクトの実験結果
- コンタクト開離時アーク放電の分光測定(その6) : Pdアークの平均スペクトル強度の検討
- 開離時アークのガス相移行と接触抵抗との関連について : AgとAgCd0コンタクトの比較
- コンタクト開離時アークのガス相移行点の自動検出とその評価
- Agコンタクト開離時アークの分光測定 : Agイオンの平均スペクトル強度とガス相移行について
- C-5-14 小形リレーに搭載されたコンタクトの連続開閉実験 その3 : ガス相移行率と接触抵抗の変化(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響
- C-5-1 小形リレーに搭載されたコンタクトの連続開閉実験その2 : ガス相移行率と接触抵抗の変化(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 周囲雰囲気がコンタクト開離時アークのガス相移行に与える影響について(放電・EMC/一般)
- CS-7-2 コンタクト開離時のアーク継続時間とガス相移行への周囲気体の影響(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
- 電気二重層キャパシタを搭載した小型電気自動車の開発--直列および並列に接続したキャパシタの充放電特性 ([日本工業大学]教育活動特集号) -- (環境分野研究奨励助成金研究)
- コンタクト開離時アークの金属と気体分子スペクトルの分光測定 : 銀と銀合金コンタクトのスペクトル強度
- C-5-1 Ag合金コンタクト材料の開離時アーク放電の分光測定 : 金属と周囲気体スペクトルの比較(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- 電気二重層キャパシタの応用に関する研究 : 充放電特性の自動計測システムの製作(ショートノート(卒論・修論特集))
- キャパシタ蓄電システム車載の電気自動車 ([日本工業大学]教育活動特集号) -- (環境分野研究奨励助成金研究)
- Ag系コンタクト開離時のアーク継続時間とガス相移行率に対する電源電圧と負荷インダクタンスの影響(卒論・修論特集)
- コンタクト開離時のアーク継続時間とガス相移行率に対する電源電圧の影響(「ショートノート」(卒論・修論特集))
- コンタクト開離時アークのガス相移行とギャップ長との関連について
- Ag系コンタクト開離時アークの継続時間とガス相移行に関する一実験 : 電源電圧の影響(回路EMC/一般)
- Ag系コンタクト開離時アークの継続時間とガス相移行に関する一実験 : 電源電圧の影響(回路EMC/一般)
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : Wアークの平均スペクトル強度
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : AgCdO_のスペクトル強度変化
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : Wアークのスペクトル強度変化
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : 低速度開離時のAgアーク放電
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : AgIIとAgIスペクトルの強度変化
- 電磁コンタクタ開閉時のアーク継続時間と電極質量の変化に対する電圧の影響(ショートノート(卒論・修論発表会))
- C-5-4 開離時アークの継続時間とガス相移行への周囲気体の影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- コンタクト開離時アーク放電の分光測定(その5) : Wアークの平均スペクトル強度の検討
- 銀系コンタクト開離時アークのガス相移行について : Agと AgSnO_2 コンタクトの比較
- 銀系コンタクト開離時アークのガス相移行について : 負荷インダクタンスの影響
- 銀系コンタクト開離時アークのガス相移行について(その1)
- コンタクト開離時アーク放電の分光測定(その4):Pdアークの2波長同時測定
- ニューラルネットワークによる二次元パターンの位置検出と識別
- Agコンタクト開離時アークのメタリック相継続時間とガス相移行境界との関連について
- Agコンタクト開離時アークのメタリック相継続時間について
- Wコンタクト開離時アークのガス相移行境界に対する気圧の影響
- CS-2-1 直流電磁コンタクタのアーク継続時間に対する電圧と電流の影響(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
- C-5-3 銀系コンタクトのガス相移行に対する電源電圧の影響 : コンタクト表面の損傷と電圧との関連(C-5.機構デバイス,一般講演)
- 開離時のみにアークを発生させた場合の電磁コンタクタの諸特性に対する電圧の影響(卒論・修論特集(ショートノート))
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 開離時のみにアークを発生させた場合の諸特性
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性 (機構デバイス)
- CS-3-1 閉成時のみにアークが発生する場合の電磁コンタクタの諸特性(CS-3.コネクタおよび電気接点関連技術の最新動向-直流から高周波まで-,シンポジウムセッション)
- 閉成時のみにアークを発生させた場合の電磁コンタクタの諸特性に対する電圧の影響(卒論・修論特集(ショートノート))
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性
- C-5-12 閉成時アークのみの場合の電極質量変化とアークエネルギーの関連(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- 電磁コンダクタにおけるCu系接点材料の諸特性(卒論・修論特集(ショートノート))
- CS-2-5 Cu接点使用時の電磁コンタクタの諸特性に関する実験(CS-2.電気接点による接続・遮断技術の最新動向)
- 電磁コンタクタにおけるCu系接点材料の諸特性 : CuとCuCr接点のアーク継続時間と接触抵抗
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性