福地 一博 | 日本工業大学電気電子工学科
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概要
関連著者
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吉田 清
日本工業大学
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高橋 篤夫
前・日本工業大学
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高橋 篤夫
日本工業大学工学部電気電子工学科
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福地 一博
日本工業大学電気電子工学科
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高橋 篤夫
日本工業大学
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吉田 清
日本工大 工
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関口 君則
日本工業大学電気電子工学科
著作論文
- Wコンタクト開離時アークのガス相移行と平均スペクトル強度との関連について
- コンタクト開離時アークのガス相移行点の自動検出とその評価
- Agコンタクト開離時アークの分光測定 : Agイオンの平均スペクトル強度とガス相移行について
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : Wアークの平均スペクトル強度
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : AgCdO_のスペクトル強度変化
- コンタクト開離時アーク放電の分光測定(その5) : Wアークの平均スペクトル強度の検討
- 銀系コンタクト開離時アークのガス相移行について : Agと AgSnO_2 コンタクトの比較