長谷川 誠 | 千歳科技大
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概要
関連著者
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長谷川 誠
千歳科学技術大学
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長谷川 誠
千歳科技大
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長谷川 誠
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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長谷川 誠
千歳科学技術大学総合光科学部グローバルシステムデザイン学科
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須藤 あすか
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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河野 良行
(株)カネカ高機能性樹脂事業部開発統括グループ
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河野 良行
(株)カネカ新規事業開発部エレクトロニクスグループ
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河野 良行
(株)カネカ 新規事業開発部 エレクトロニクスグループ
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川原 宗貴
千歳科学技術大学総合光科学部
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長谷川 誠
千歳科学技術大学大学院 光科学研究科 光科学専攻
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河野 良行
(株)カネカ高機能性樹脂事業部樹脂研究グループ
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川原 宗貴
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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川原 宗貴
千歳科学技術大学総合光科学部グローバルシステムデザイン学科
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川原 宗貴
千歳科学技術大学
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高橋 祐介
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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高橋 祐介
慶應義塾大学医学部呼吸器外科
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高橋 祐介
Nec共通基盤ソフトウェア研究所
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高橋 祐介
名古屋工業大学応用化学科
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高橋 祐介
千歳科学技術大学 光科学部 光応用システム学科
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高橋 祐介
慶應義塾大学呼吸器外科
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長谷川 誠
千歳科学技術大学総合光科学部
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長谷川 誠
千歳科学技術大学 総合光科学部
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松藤 卓真
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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安藤 寛
(株)カネカ液状樹脂事業部企画開発グループ
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松藤 卓真
千歳科学技術大学
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小林 菜々絵
千歳科学技術大学総合光科学部グローバルシステムデザイン学科
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安藤 寛
(株)カネカ新規事業開発部エレクトロニクスグループ
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安藤 寛
(株)カネカ 新規事業開発部 エレクトロニクスグループ
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小林 菜々絵
千歳科学技術大学 総合光科学部 グローバルシステムデザイン学科
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柏倉 誠
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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工藤 駿佑
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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柏倉 誠
千歳科学技術大学総合光科学部
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工藤 駿佑
千歳科学技術大学総合光科学部
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井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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高木 相
東北大学
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沢 孝一郎
慶應義塾大学
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藤原 恵
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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吉田 清
日本工業大学
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玉井 輝雄
三重大
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澤 孝一郎
慶大
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渡辺 克忠
工学院大
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谷口 正成
東北文化大
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若月 昇
石巻専修大
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服部 康弘
オートネットワーク研
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小林 達郎
沖センサデバイス
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柳谷 優太
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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渡辺 克忠
工学院大学工学部電気システム工学科准教授
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谷口 正成
東北文化学園大学
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森田 恭平
千歳科学技術大学
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浅井 隆浩
千歳科学技術大学
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高木 相
東北大学:東北文化学園大学科学技術学部
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高木 相
東北文化学園大学
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井上 浩
秋田大
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井上 浩
秋田大:機構デバイス研究専門委員会
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谷口 正成
東北文化学園大学科学技術学部知能情報システム学科
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谷口 正成
東北文化学園大学科学技術学部応用情報工学科
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沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
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玉井 輝雄
三重大:機構デバイス研究専門委員会
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小林 達郎
沖センサデバイス:機構デバイス研究専門委員会
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高木 相
東北大
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澤 孝一郎
日本工業大学工学部
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若月 昇
石巻専修大理工
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高木 相
東北大学 工学部 通信工学科
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高木 相
東北大学工学部
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高橋 圭祐
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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玉井 輝雄
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
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若月 晃
石巻専修大学理工学部情報電子工学科
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高橋 佳佑
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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高橋 佳佑
千歳科学技術大学大学院光科学研究科光科学専攻
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高橋 佳佑
千歳科学技術大学 光科学部 光応用システム学科
著作論文
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その2)(トライボロジー/一般)
- 光ファイバ出射光スペックルパターンのセンシングへの応用可能性に関する実験的検討
- ワイブル分布関数を利用した接触抵抗データ解析の試み
- Ag接点の開離アーク放電特性に対する接点開離速度の影響に関する実験的検討(材料デバイスサマーミーティング)
- 透過型回折格子フィルムによる分光観察と波長計算の実践(北海道支部)
- CS-7-1 リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系・非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
- C-5-4 光切断法を利用した接点表面形状の評価システムに関する基礎検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 電磁誘導現象の視覚的観察装置の試作と高速動画カメラによる観察(ショートノート(卒論・修論特集))
- 光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 第24回電気接点に関する国際会議ICEC2008(フランス)概要報告(トライボロジ・一般)
- C-5-5 ワイブル分布関数を利用した接触抵抗データ解析の試み(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 学生の自主的プロジェクト活動を通じたものづくり教育
- 地域と共に育つ学生たち(教育に関する一言)
- 発光ダイオードを用いた光通信実験セットとそれを利用した演示実験の実践
- 13.自律的な学生プロジェクト活動を通じた学生教育効果と持続的な地域教育連携の追及(大会テーマ「実感!体感!物理教育〜物理教育の原点への問いかけ〜」)
- CS-4-2 回転印加による光ファイバ出射光スペックルパターンの変動に関する一実験(CS-4.センシング・計測技術,シンポジウム)
- C-5-4 光切断法を利用した接点表面形状変化の評価の試み(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 地域の小中学校と連携した持続的な理科教育支援活動
- 第20回記念物理教育に関するシンポジウム開催報告
- 自律的な学生プロジェクト活動を通じた学生教育と地域連携
- C-5-3 Ag接点の開離アーク消滅時ギャップ長と接点開離速度との関係に関する実験的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- Ag接点の開離アーク放電特性に対する接点開離速度の影響に関する実験的検討(材料デバイスサマーミーティング)
- Ag接点の開離アーク放電特性に対する接点開離速度の影響に関する実験的検討(材料デバイスサマーミーティング)
- 光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 電磁反発力を体験する実験セットの試作と学生教育効果(北海道支部特集)
- IC-REPEC2009概要報告
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その3)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 共焦点光学系を利用したサンプル表面の高さ計測システムの試作
- Ag接点の開離アーク消滅時ギャップ長と接点開離速度との関係に関する実験的検討
- 揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討 (機構デバイス)
- 揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討 (信頼性)
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その3)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転特性に関する検討 (機構デバイス)
- 光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転特性に関する検討(2) (機構デバイス)
- CS-2-8 開閉動作中の接点表面形状の光切断法による計測(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
- C-5-7 光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転現象に関する実験的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 発光ダイオードで送受信を行う光通信実験セットに関する一検討
- 学生プロジェクトによる理科・科学の啓蒙活動(教育報告)
- 光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転特性に関する検討(卒論・修論特集(ショートノート))
- 光切断法を利用した接点表面形状の計測システムに関する実験的検討(卒論・修論特集(ショートノート))
- 揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転特性に関する検討(2)
- LED送受信型光通信の半導体物性実験への応用の試み(私の実践)
- 学生プロジェクトによる理科・科学の啓蒙活動
- スペックルパターンの変動を利用した光ファイバへの荷重印加検出システムに関する研究 (機構デバイス)
- スペックルパターンの変動を利用した光ファイバへの荷重印加検出システムに関する研究(第2報) (機構デバイス)
- 新規アクリルポリマーの近傍におけるリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 新規アクリルポリマーの近傍におけるリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- スペックルパターンの変動を利用した光ファイバへの荷重印加検出システムに関する研究(卒論・修論特集(ショートノート))