新規アクリルポリマーの近傍におけるリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
著者らは既に、シリコーン系材料の代替品としての利用を意図したシリコーン成分を含有しない新しい反応硬化形アクリルポリマーからの揮発ガス雰囲気中でリレー接点(AgSnIn接点)を動作させて、数種類の直流誘導性(L=20mH)及び抵抗性負荷回路の遮断試験を行った場合に、接触抵抗特性の増加が認められないことを報告している。今回は、ポリマーの硬化方法の相違による影響を検討する目的で、同じアクリルポリマーのUV硬化形を使用して、120℃環境下で同様に直流誘導性負荷回路における14V-1A、14V-0.4Aの連続4万回遮断試験を行って、接触抵抗特性を測定した。その結果、この場合にも接触抵抗特性に大きな変動は認められず、UV硬化形のアクリルポリマーからの揮発ガス成分も、近傍で動作するリレー接点の動作に悪影響を与えないことが確認された。
- 2012-02-10
著者
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学
-
安藤 寛
(株)カネカ液状樹脂事業部企画開発グループ
-
長谷川 誠
千歳科技大
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
-
小林 菜々絵
千歳科学技術大学総合光科学部グローバルシステムデザイン学科
-
河野 良行
(株)カネカ高機能性樹脂事業部開発統括グループ
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学総合光科学部グローバルシステムデザイン学科
-
安藤 寛
(株)カネカ新規事業開発部エレクトロニクスグループ
-
河野 良行
(株)カネカ新規事業開発部エレクトロニクスグループ
-
安藤 寛
(株)カネカ 新規事業開発部 エレクトロニクスグループ
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学大学院 光科学研究科 光科学専攻
-
河野 良行
(株)カネカ 新規事業開発部 エレクトロニクスグループ
-
小林 菜々絵
千歳科学技術大学 総合光科学部 グローバルシステムデザイン学科
関連論文
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その3) (機構デバイス)
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その3) (信頼性)
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その2)(トライボロジー/一般)
- 光ファイバ出射光スペックルパターンのセンシングへの応用可能性に関する実験的検討
- ワイブル分布関数を利用した接触抵抗データ解析の試み
- Ag接点の開離アーク放電特性に対する接点開離速度の影響に関する実験的検討(材料デバイスサマーミーティング)
- 透過型回折格子フィルムによる分光観察と波長計算の実践(北海道支部)
- CS-7-1 リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系・非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
- C-5-4 光切断法を利用した接点表面形状の評価システムに関する基礎検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 電磁誘導現象の視覚的観察装置の試作と高速動画カメラによる観察(ショートノート(卒論・修論特集))
- 光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 第24回電気接点に関する国際会議ICEC2008(フランス)概要報告(トライボロジ・一般)
- C-5-5 ワイブル分布関数を利用した接触抵抗データ解析の試み(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 学生の自主的プロジェクト活動を通じたものづくり教育
- LEDを利用した光の三原色実験セットの製作と授業実践(北海道支部特集)
- 片持ち梁支持片の先端に取り付けた電気接点対におけるワイピング動作中のチャッタと転移突起との関係(機構デバイス)
- 地域と共に育つ学生たち(教育に関する一言)
- 発光ダイオードを用いた光通信実験セットとそれを利用した演示実験の実践
- 13.自律的な学生プロジェクト活動を通じた学生教育効果と持続的な地域教育連携の追及(大会テーマ「実感!体感!物理教育〜物理教育の原点への問いかけ〜」)
- CS-4-2 回転印加による光ファイバ出射光スペックルパターンの変動に関する一実験(CS-4.センシング・計測技術,シンポジウム)
- C-5-8 Ag接点の開離アーク発生率に対する開離速度の影響に関する一考察(C-5.機構デバイス,一般講演)
- Sa1-5 学生の自主的サークル活動を通じた物理教育効果
- C-5-6 荷重印加による光ファイバ出射光スペックルパターンの変動に関する一実験(C-5.機構デバイス,一般講演)
- C-5-5 Pd接点の最小アーク電流に関する一考察(C-5.機構デバイス,一般講演)
- 14 学生による理科実験教材及び授業プログラムの開発プロジェクトとその教育効果の検討(21世紀が求める科学教育)
- 13-211 学生を主体とした小学生向け理科実験授業プログラムの開発とその実践の試み((17)工学教育システムの個性化・活性化-III)
- P9 小学生向け「空の青さと夕焼け」理科実験授業プログラムの開発とその演示(大会テーマ「科学と社会のコミュニケーション」)
- P8 透過型回折格子フィルムを用いた分光と光の波長の簡易計算実験(大会テーマ「科学と社会のコミュニケーション」)
- P7 小学生向け「LEDで遊ぼう」「電気の世界」理科実験授業プログラムの開発とその演示(大会テーマ「科学と社会のコミュニケーション」)
- P6 LEDを用いた簡易光通信模擬実験セット(大会テーマ「科学と社会のコミュニケーション」)
- 7IIIa4 大学生・高校生・小学生間のリレーティーチングによる教育効果の検討(「科学と社会」セッション,大会テーマ「科学と社会のコミュニケーション」)
- 7IIIa3 学生による小学生向け理科実験授業プログラムの開発とその演示による教育効果の検討(「科学と社会」セッション,大会テーマ「科学と社会のコミュニケーション」)
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告(その2)
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts : 概容報告(その1)
- 21st International Conference on Electrical Contacts(第21回接点国際会議)概要報告(フェロー記念講演・一般)
- 光ファイバのスペックルノイズとその変形、歪との関係(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 2001年第47回IEEE電気接点ホルム国際会議報告
- 2000年題46回IEEE電気接点ホルム国際会議報告
- C-5-12 振動印加による光ファイバ出射光スペックルパターンの変動に関する一実験(C-5.機構デバイス,一般講演)
- C-5-4 光切断法を利用した接点表面形状変化の評価の試み(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- レーザ顕微鏡による接点転移・消耗形状の数値評価に関する実験的考察
- 窒素雰囲気中で動作したコンタクト表面の消耗特性に関する一考察
- CS-5-4 接点開離直後の間欠的アーク放電の発生メカニズム(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
- 地域の小中学校と連携した持続的な理科教育支援活動
- 第20回記念物理教育に関するシンポジウム開催報告
- 自律的な学生プロジェクト活動を通じた学生教育と地域連携
- C-5-3 Ag接点の開離アーク消滅時ギャップ長と接点開離速度との関係に関する実験的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- Ag接点の開離アーク放電特性に対する接点開離速度の影響に関する実験的検討(材料デバイスサマーミーティング)
- Ag接点の開離アーク放電特性に対する接点開離速度の影響に関する実験的検討(材料デバイスサマーミーティング)
- 光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 電磁反発力を体験する実験セットの試作と学生教育効果(北海道支部特集)
- 第52回電気接点に関するIEEEホルム会議の概要報告
- 接点材料の最小アーク電流に関する一考察
- CS-5-5 電磁コンタクタ用AgNi接点の陰極消耗評価法に関する研究(CS-5.信号・電力伝送用デバイスの信頼性とその課題,シンポジウム)
- CS-5-2 Ag接点の最小アーク電流に関する一考察(CS-5.信号・電力伝送用デバイスの信頼性とその課題,シンポジウム)
- 光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する基礎検討(「ショートノート」(卒論・修論特集))
- 単一の焦電型赤外線検出素子を用いた火災・人感センサシステムに関する一検討
- 単一の焦電型赤外線検出素子を用いた火災・人感センサシステムに関する一検討
- C-5-2 リレー搭載の閉成責務動作接点対におけるスチッキング発生時前後の復旧時間の変化(C-5.機構デバイス,エレクトロニクス2)
- CS-5-4 最小アーク電流値の再解釈に関する実験的考察(CS-5. 接触・接続技術の課題と今後の展望, エレクトロニクス2)
- CS-5-3 片持ち梁支持片に載せたAgやAg/SnO_2の閉成責務動作接点対における分離時電圧波形(CS-5. 接触・接続技術の課題と今後の展望, エレクトロニクス2)
- C-5-2 電磁コンタクタ用Ag-Ni接点の陰極消耗量予測に関する研究(C-5. 機構デバイス, エレクトロニクス2)
- リレー搭載閉成責務接点対でのスチッキング発生時の接点間電圧波形(機構デバイス)
- IC-REPEC2009概要報告
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その3)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み(第2報)
- C-5-16 レーザ顕微鏡データを用いた体積計測プログラム開発の試み(C-5.機構デバイス)
- 共焦点光学系を利用したサンプル表面の高さ計測システムの試作
- 教える機会を活用した新しい教育プログラムの試み
- 地域教育貢献としての理科実験デモンストレーション(実験教室,北海道支部特集)
- 光ファイバ出射光のスペックルパターンのセンシングへの応用可能性に関する基礎検討
- リレー搭載閉成責務動作接点対での分離時電圧波形 : 分離動作時のワイピング作用中のチャッター
- C-5-9 20A抵抗回路で閉成責務動作するリレー接点での分離不良の一原因(C-5.機構デバイス)
- 大学生・高校生・小学生間のリレーティーチングの試み : 千歳科学技術大学における大学Jr.サイエンス事業の報告(北海道支部特集)
- デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み
- デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み
- Ag接点の開離アーク消滅時ギャップ長と接点開離速度との関係に関する実験的検討
- 揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討 (機構デバイス)
- 揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討 (信頼性)
- リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その3)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Agコンタクトにおける接触抵抗特性と電極表面状態との関係に関する一考察
- ワイブル分布を利用した接触抵抗分布の解析に関する一検討
- C-5-5 走査型レーザ顕微鏡によるAg接点消耗特性の数値評価に関する一実験
- C-5-3 窒素雰囲気中開閉接点の表面状態と生成物分析
- 走査型デジタルレーザ顕微鏡による転移消耗特性の数値評価に関する一考察
- 走査型デジタルレーザ顕微鏡を利用したコンタクト表面形状の評価に関する一検討
- C-5-12 レーザ顕微鏡を用いた窒素雰囲気中における開閉接点の消耗・転移の評価
- C-5-2 走査型デジタルレーザ顕微鏡による接点表面の数値評価に関する一考察
- IC-REPEC2004概要報告
- 光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転特性に関する検討 (機構デバイス)
- 光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転特性に関する検討(2) (機構デバイス)
- 電磁コンダクタ用接点の表面状態の経時変化に関する一検討
- 光ファイバのスペックルノイズとその変形、歪との関係
- CS-2-8 開閉動作中の接点表面形状の光切断法による計測(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
- C-5-7 光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転現象に関する実験的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 各種はんだ材料の溶融特性比較に関する一実験
- SC-3-6 レーザ顕微鏡によるはんだ材料比較に関する一実験(第 2 報)
- 発光ダイオードで送受信を行う光通信実験セットに関する一検討