長谷川 誠 | 千歳科学技術大学総合光科学部グローバルシステムデザイン学科

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関連著者

• 長谷川 誠

  千歳科学技術大学

• 長谷川 誠

  千歳科学技術大学総合光科学部グローバルシステムデザイン学科

• 長谷川 誠

  千歳科技大

• 長谷川 誠

  千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科

• 長谷川 誠

  千歳科学技術大学大学院 光科学研究科 光科学専攻

• 河野 良行

  (株)カネカ高機能性樹脂事業部開発統括グループ

• 河野 良行

  (株)カネカ新規事業開発部エレクトロニクスグループ

• 河野 良行

  (株)カネカ 新規事業開発部 エレクトロニクスグループ

• 河野 良行

  (株)カネカ高機能性樹脂事業部樹脂研究グループ

• 川原 宗貴

  千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科

• 川原 宗貴

  千歳科学技術大学総合光科学部グローバルシステムデザイン学科

• 川原 宗貴

  千歳科学技術大学

• 小林 菜々絵

  千歳科学技術大学総合光科学部グローバルシステムデザイン学科

• 小林 菜々絵

  千歳科学技術大学 総合光科学部 グローバルシステムデザイン学科

• 高橋 祐介

  千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科

• 高橋 祐介

  慶應義塾大学医学部呼吸器外科

• 高橋 祐介

  Nec共通基盤ソフトウェア研究所

• 高橋 祐介

  名古屋工業大学応用化学科

• 川原 宗貴

  千歳科学技術大学総合光科学部

• 高橋 祐介

  千歳科学技術大学 光科学部 光応用システム学科

• 高橋 祐介

  慶應義塾大学呼吸器外科

• 須藤 あすか

  千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科

• 安藤 寛

  (株)カネカ液状樹脂事業部企画開発グループ

• 安藤 寛

  (株)カネカ新規事業開発部エレクトロニクスグループ

• 安藤 寛

  (株)カネカ 新規事業開発部 エレクトロニクスグループ

• 松藤 卓真

  千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科

• 藤原 恵

  千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科

• 松藤 卓真

  千歳科学技術大学

• 高橋 圭祐

  千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科

• 高橋 佳佑

  千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科

• 高橋 佳佑

  千歳科学技術大学大学院光科学研究科光科学専攻

• 高橋 佳佑

  千歳科学技術大学 光科学部 光応用システム学科

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著作論文

• リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その2)(トライボロジー/一般)
• C-5-4 光切断法を利用した接点表面形状変化の評価の試み(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 地域の小中学校と連携した持続的な理科教育支援活動
• 第20回記念物理教育に関するシンポジウム開催報告
• 自律的な学生プロジェクト活動を通じた学生教育と地域連携
• C-5-3 Ag接点の開離アーク消滅時ギャップ長と接点開離速度との関係に関する実験的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• IC-REPEC2009概要報告
• リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その3)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その3)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• CS-2-8 開閉動作中の接点表面形状の光切断法による計測(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
• C-5-7 光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転現象に関する実験的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転特性に関する検討(卒論・修論特集(ショートノート))
• 光切断法を利用した接点表面形状の計測システムに関する実験的検討(卒論・修論特集(ショートノート))
• 揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転特性に関する検討(2)
• 新規アクリルポリマーの近傍におけるリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 新規アクリルポリマーの近傍におけるリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• スペックルパターンの変動を利用した光ファイバへの荷重印加検出システムに関する研究(卒論・修論特集(ショートノート))
• スペックルパターンの変動を利用した光ファイバへの荷重印加検出システムに関する研究(第2報)

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