スペックルパターンの変動を利用した光ファイバへの荷重印加検出システムに関する研究(卒論・修論特集(ショートノート))
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概要
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光ファイバからの出射光スポット内に観察されるスペックルパターンの外乱印加による変動をセンシング用途に応用する可能性を検討する一環として、半導体レーザ光を入射・伝搬させている光ファイバに荷重を印加して、出射光スポット内のスペックルパターンにおける変動を画像データとして把握・検討した。その結果、平坦なプレート越しに荷重を印加しても顕著な変動は認められなかったが、交互に配置した突起部により光ファイバにベンディングが生じる状態で荷重を印加すると、スペックルパターン内に観察される粒状形状の数が減少することが確認された。
- 2012-02-24
著者
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学
-
川原 宗貴
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
-
長谷川 誠
千歳科技大
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学総合光科学部グローバルシステムデザイン学科
-
川原 宗貴
千歳科学技術大学総合光科学部グローバルシステムデザイン学科
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学大学院 光科学研究科 光科学専攻
-
川原 宗貴
千歳科学技術大学
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