Ag接点の開離アーク放電特性に対する接点開離速度の影響に関する実験的検討(材料デバイスサマーミーティング)
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概要
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Ag接点の開離アーク放電特性に対する接点開離速度の影響を検討するために、直流誘導性負荷回路にて14V-0.1〜2.0Aの電流を開離速度1mm/s、5mm/s、10mm/sで遮断し、開離アーク発生率および平均アーク継続時間を測定した。その結果、開離速度に係らず、Ag接点の最小アーク電流値と言われる0.4Aではアーク発生率がほぼ100%となり、平均アーク継続時間は10〜30μsとなった。これは、従来から言われる最小アーク電流値は数10μsのオーダのアークがほぼ100%の確率で発生するようになる電流と解釈すべきであるという著者らの以前の報告を裏付けるものである。0.4A以下の電流レベルでは、アーク発生率には、わずかに開離速度の影響が認められた。平均アーク継続時間と開離速度との積としてアーク消滅時ギャップ長を求めたところ、開離速度が大きくなるにしたがってアーク消滅時ギャップ長が大きくなる傾向が認められ、負荷電流レベルが大きいほど、その傾向は顕著に観察された。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-06-12
著者
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