玉井 輝雄 | 三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
玉井 輝雄
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
飯田 和生
三重大学大学院社会連携講座
-
服部 康弘
株式会社オートネットワーク技術研究所
-
斎藤 寧
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
服部 康弘
(株)オートネットワーク技術研究所
-
齋藤 寧
株式会社オートネットワーク技術研究所
-
齋藤 寧
三重大学
-
玉井 輝雄
三重大学大学院工学研究科社会連携講座車載ネットワーク技術研究室
-
澤田 滋
株式会社オートネットワーク技術研究所
-
飯田 和生
三重大学工学部
-
玉井 輝雄
兵庫教育大学
-
澤田 滋
三重大学大学院社会連携講座
-
飯田 和生
三重大学大学院工学研究科
-
玉井 輝雄
三重大:機構デバイス研究専門委員会
-
玉井 輝雄
エルコンテックコンサルティング
-
齋藤 寧
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
飯田 和生
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
澤田 滋
三重大学大学院工学研究科社会連携講座車載ネットワーク技術研究室
-
飯田 和生
三重大学
-
澤田 滋
三重大学大学院工学研究科
-
玉井 輝雄
三重大学工学部
-
澤田 滋
三重大学工学部電気電子工学科車載ネットワーク技術研究室
-
飯田 和生
三重大学工学部電気電子工学科車載ネットワーク技術研究室
-
齋藤 寧
三重大学工学部
-
伊藤 哲也
株式会社オートネットワーク技術研究所
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部
-
渡辺 克忠
工学院大
-
若月 昇
石巻専修大
-
渡辺 克忠
工学院大学工学部電気システム工学科准教授
-
鍋田 佑也
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
若月 昇
石巻専修大理工
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学理工学部
-
高木 相
東北大学:東北文化学園大学科学技術学部
-
高木 相
東北文化学園大学
-
井上 浩
秋田大:機構デバイス研究専門委員会
-
渡辺 克忠
工学院大学
-
中村 真也
三重大学大学院車載ネットワーク技術研究室
-
富永 裕一
三重大学工学研究科車載ネットワーク研究室
-
山中 拓哉
(株)オートネットワーク技術研究所回路接続研究部基盤技術研究室
-
高木 相
東北大
-
池田 博榮
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
池田 博榮
三重大学大学院工学研究科 車載ネットワーク技術研究室
-
玉井 輝雄
三重大学
-
高木 相
東北大学
-
山下 祐司
三重大学大学院車載ネットワーク技術研究室
-
石田 広幸
東北文化学園大学
-
高野 栄助
コンサルタント
-
関川 純哉
静岡大学
-
関川 純哉
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
長谷川 誠
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
-
石田 広幸
東北文化学園大 科学技術
-
山中 拓哉
三重大学工学部車載ネットワーク技術研究室
-
佐藤 尚幸
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
石田 広幸
東北文化学園大学科学技術学部
-
石田 広幸
東北文化学園大学科学技術応用情報工学科
-
増井 壮志
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
上野 貴博
日本工業大学
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学
-
服部 康弘
オートネットワーク研
-
小林 達郎
沖センサデバイス
-
谷口 正成
東北文化学園大学
-
伊藤 寿浩
東京大学
-
高橋 光弥
田中貴金属工業
-
野村 良行
株式会社オートネットワーク技術研究所
-
中村 真也
三重大学工学部
-
清水 佳織
(株)オートネットワーク技術研究所
-
井上 浩
秋田大学
-
小林 達郎
沖センサデバイス:機構デバイス研究専門委員会
-
澤田 滋
三重大学工学部車載ネットワーク技術研究室
-
清水 敦
(株)オートネットワーク技術研究所
-
平林 仁
三重大学工学部
-
伊藤 大二
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
Sekikawa Junya
Faculty Of Engineering And Design Kyoto Institute Of Technology
-
上野 貴博
日本工業大学工学部
-
池田 博榮
(株)オートネットワーク技術研究所
-
澤田 滋
三重大学 工学部 車載ネットワーク技術研究室
-
若月 晃
石巻専修大学理工学部情報電子工学科
-
猿渡 裕也
三重大学工学部
-
筑地 茂樹
三重大学工学部
-
笹山 昇吾
三重大学工学部
-
清水 敦
三重大学工学部
-
澤田 滋
三重大学工学部
-
野中 聡
旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座
-
森田 登
日本工業大学
-
江原 康生
京都大学学術情報メディアセンター
-
曽根 秀昭
東北大学サイバーサイエンスセンター
-
吉田 清
日本工業大学
-
玉井 輝雄
三重大
-
澤 孝一郎
慶大
-
谷口 正成
東北文化大
-
長谷川 誠
千歳科技大
-
本保 亮一
(株)デンソー
-
坂口 理
田中貴金属工業技術部
-
沢 孝一郎
慶応義塾大学理工学部
-
佐藤 明弘
兵庫教育大学
-
井上 浩
秋田大
-
江原 康生
京都大学大型計算機センター
-
曽根 秀昭
東北大学大学院情報科学研究科
-
谷口 正成
東北文化学園大学科学技術学部知能情報システム学科
-
谷口 正成
東北文化学園大学科学技術学部応用情報工学科
-
谷口 正成
東北文化学園大 科学技術
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学理工学部システムデザイン工学科
-
山下 祐司
三重大学工学部
-
関川 純哉
静岡大学 工学部
-
前田 裕人
三重大学工学部
-
伊藤 秀郎
兵庫教育大学
-
伊香 賢
三重大学工学部車載ネットワーク技術研究室
-
長瀬 達也
三重大学工学部車載ネットワーク技術研究室
-
野々川 正輝
三重大学工学部
-
伊藤 大二
三重大学工学部
-
中西 洋貴
三重大学工学部
-
石川 義高
三重大学工学部
-
辻井 孝
三重大学工学部
-
佐藤 尚幸
三重大学工学部
-
堀田 克則
三重大学大学院工学研究科社会連携講座
-
高木 相
東北大学 工学部 通信工学科
-
大崎 博志
佐土原高等学校
-
渡辺 克忠
工学院大学 工学部電気電子工学専攻
-
高木 相
東北大学工学部
-
大平 悟
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
猿渡 裕也
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
玉井 輝雄
株式会社オートネットワーク技術研究所
-
谷口 正成
東北文化学園大
-
沢 孝一郎
慶応義塾大学理大学部電気工学科
-
坂口 理
田中貴金属工業(株)富岡工場材料開発セクション
-
沢 孝一郎
慶応義塾大学:日本工業大学
著作論文
- 見掛けの面積の集中抵抗に及ぼす真実接触点の影響(トライボロジー/一般)
- 第24回電気接点に関する国際会議ICEC2008(フランス)概要報告(トライボロジ・一般)
- 車載コネクタ接点に用いられる金属の接触荷重-接触抵抗特性について(ショートノート(卒論・修論特集))
- 錫(Sn)めっき表面での酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 : エリプソメトリによる研究(ショートノート(卒論・修論特集))
- 微摺動摩耗現象への流動パラフィンの効果の研究(ショートノート(卒論・修論特集))
- 実車環境の把握と車載コネクタ劣化メカニズムの解明(ショートノート(卒論・修論特集))
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告(その2)
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts : 概容報告(その1)
- 21st International Conference on Electrical Contacts(第21回接点国際会議)概要報告(フェロー記念講演・一般)
- 2000年題46回IEEE電気接点ホルム国際会議報告
- シリコーン蒸気汚染による接触不良発生の電気回路条件依存性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- すずめっき接点を用いた繰り返し開閉時の接触荷重-接触抵抗特性(ショートノート(卒論・修論特集))
- 自動車用コネクタ錫めっきにおける摩擦係数の荷重依存性
- 錫および銀めっき電気接点における接触抵抗挙動解析(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫(Sn)めっき表面の酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 : エリプソメトリによる研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫めっき微摺動接点の微細構造観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 第52回電気接点に関するIEEEホルム会議の概要報告
- Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性及び機械的特性についての影響(ショートノート(卒論・修論発表会))
- コネクタ寿命に対する微摺動摩擦現象における摺動距離の影響
- 微摺動磨耗現象に関する流動パラフィンの効果について(ショートノート(卒論・修論発表会))
- 自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Ag-Pd-Mg合金接点の耐シリコーン汚染性のメカニズムについて
- 錫めっき摺動接点に堆積した酸化物厚みと接触抵抗の関係(ショートノート(卒論・修論発表会))
- 錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫および銀めっき電気接点における接触抵抗挙動解析(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫(Sn)めっき表面の酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 : エリプソメトリによる研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫めっき微摺動接点の微細構造観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Sn,Al,In等の軟質金属接触部の接触抵抗特性(トライボロジ・一般)
- 接触抵抗特性に作用する大気中の湿度の影響
- 接触抵抗特性に作用する大気中の湿度の影響
- Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 実車環境の把握とコネクタ劣化メカニズムの解明(ショートノート(卒論・修論特集))
- 接触抵抗の接触荷重、接触面積依存性と被膜破壊の影響(ショートノート(卒論・修論特集))
- スズめっき接点における微摺動摩耗現象に与える摺動振幅の影響(ショートノート(卒論・修論特集))
- The 51^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告
- 地震防災用リレーの信頼性に関する研究
- 錫(Sn)接触部の接触抵抗特性の特異性について
- トライボロジーと接触抵抗特性からみたMg添加によるAg-Pd合金の性能向上について(トライボロジー/一般)
- 錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定 (機構デバイス)
- 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について (機構デバイス)
- 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について (信頼性)
- 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察 (機構デバイス)
- 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察 (信頼性)
- 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究
- Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討
- Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察
- 微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究
- 接触抵抗の荷重依存性について
- IC-REPEC2004概要報告
- シリコーン蒸気汚染による接触信頼性の低下を抑制する因子と加速する因子について(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 電気接点表面と接触のメカニズム
- 接触境界部に介在する汚染皮膜の電気的破壊による低接触抵抗の回復とそのメカニズム
- SC-5-3 STM(走査トンネル電子顕微鏡)による接触面のトポグラフ像と仕事関数像
- SC-4-5 シリコーン蒸気環境で優れた接触特性を示すAg-Pd-Mg合金について
- 新しく開発したAg-Pd-Mg合金における低接触抵抗のメカニズム
- 新しく開発したAg-Pd-Mg合金における低接触抵抗のメカニズム
- シリコーン蒸気中で開閉する接触面で生ずる特異な接触痕跡パターンについて
- 接触不良に対するシリコーンの分解と放電条件
- シリコーン汚染とシリコーン蒸気の分解過程
- シリコーン蒸気汚染による接触不良発生の電気回路条件依存性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 : 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 : 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 発光ダイオードを用いた電気接点内部の電流密度分布のその場観察(機構デバイス)
- 接触信頼性に及ぼすシリコーン蒸気の影響 : SiO_2生成に対する接触面の印加電圧の極性依存性(「トライボロジー」)
- 錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定
- 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 接触抵抗測定用コンタクトプローブ評価(卒論・修論特集(ショートノート))
- 実車環境における車載コネクタの熱負荷による劣化影響(卒論・修論特集(ショートノート))
- 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 実車環境における車載コネクタ劣化メカニズムの解明(トライボロジー/一般)
- 摺動の接触荷重-接触抵抗特性への影響 (信頼性)
- 摺動の接触荷重-接触抵抗特性への影響 (機構デバイス)
- 摺動の接触荷重-接触抵抗特性への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 摺動の接触荷重-接触抵抗特性への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)