Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る

• 車載用コネクタで使用されている銅合金条へSnめっきした試験片を,高温放置することにより酸化被膜を成長させ,放置時間に対する接触荷重-接触抵抗特性の継時的変化を観察した.放置時間が50時間付近までは酸化被膜の成長と思われる抵抗値の上昇が見られたが,それ以降は接触抵抗値が低下した。この現象に対して,表面のミクロな構造の観察などを行い,そのメカニズムについて検討した.

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2009-02-13

著者

• 齋藤 寧

  株式会社オートネットワーク技術研究所

• 服部 康弘

  株式会社オートネットワーク技術研究所

• 斎藤 寧

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 服部 康弘

  (株)オートネットワーク技術研究所

• 齋藤 寧

  三重大学

• 齋藤 寧

  三重大学工学部

• 玉井 輝雄

  三重大学工学部

• 飯田 和生

  三重大学工学部

• 富永 裕一

  三重大学工学研究科車載ネットワーク研究室

• 山中 拓哉

  (株)オートネットワーク技術研究所回路接続研究部基盤技術研究室

• 飯田 和生

  三重大学大学院社会連携講座

• 齋藤 寧

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 山中 拓哉

  三重大学工学部車載ネットワーク技術研究室

• 玉井 輝雄

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

関連論文

• 見掛けの面積の集中抵抗に及ぼす真実接触点の影響(トライボロジー/一般)
• 第24回電気接点に関する国際会議ICEC2008(フランス)概要報告(トライボロジ・一般)
• 車載コネクタ接点に用いられる金属の接触荷重-接触抵抗特性について(ショートノート(卒論・修論特集))
• 錫(Sn)めっき表面での酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 : エリプソメトリによる研究(ショートノート(卒論・修論特集))
• 微摺動摩耗現象への流動パラフィンの効果の研究(ショートノート(卒論・修論特集))
• 実車環境の把握と車載コネクタ劣化メカニズムの解明(ショートノート(卒論・修論特集))
• 自動車接点材料用のSn-Ag合金電析とその電気的接続性
• The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告(その2)
• The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts : 概容報告(その1)
• 21st International Conference on Electrical Contacts(第21回接点国際会議)概要報告(フェロー記念講演・一般)
• 2000年題46回IEEE電気接点ホルム国際会議報告
• シリコーン蒸気汚染による接触不良発生の電気回路条件依存性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 車載用プレスフィットコネクタの開発
• 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• すずめっき接点を用いた繰り返し開閉時の接触荷重-接触抵抗特性(ショートノート(卒論・修論特集))
• 錫めっき摺動接点に堆積した酸化物厚みと接触抵抗の関係 (機構デバイス)
• 自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察 (信頼性)
• 自動車用コネクタ錫めっきにおける摩擦係数の荷重依存性
• 錫および銀めっき電気接点における接触抵抗挙動解析(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 錫(Sn)めっき表面の酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 : エリプソメトリによる研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 錫めっき微摺動接点の微細構造観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 第52回電気接点に関するIEEEホルム会議の概要報告
• Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性及び機械的特性についての影響(ショートノート(卒論・修論発表会))
• コネクタ寿命に対する微摺動摩擦現象における摺動距離の影響
• 微摺動磨耗現象に関する流動パラフィンの効果について(ショートノート(卒論・修論発表会))
• 錫および金めっき接点における接触抵抗に及ぼすパラフィンの影響(ショートノート(卒論・修論発表会))
• 自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 車載用プレスフィットコネクタの開発
• 錫めっき摺動接点に堆積した酸化物厚みと接触抵抗の関係(ショートノート(卒論・修論発表会))
• 液体金属を用いたSn酸化被膜の電気的性質の測定(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 液体金属を用いたSn酸化被膜の電気的性質の測定(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 錫および銀めっき電気接点における接触抵抗挙動解析(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 錫(Sn)めっき表面の酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 : エリプソメトリによる研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 錫めっき微摺動接点の微細構造観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• Sn,Al,In等の軟質金属接触部の接触抵抗特性(トライボロジ・一般)
• シリコーンゴムの撥水性に及ぼす低分子量物質の影響
• 圧着接続メカニズムに関する考察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 圧着接続メカニズムに関する考察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究
• Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討
• 微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 実車環境の把握とコネクタ劣化メカニズムの解明(ショートノート(卒論・修論特集))
• 接触抵抗の接触荷重、接触面積依存性と被膜破壊の影響(ショートノート(卒論・修論特集))
• スズめっき接点における微摺動摩耗現象に与える摺動振幅の影響(ショートノート(卒論・修論特集))
• 端子圧着部接続信頼性に関するCAE解析によるアプローチ
• 錫(Sn)接触部の接触抵抗特性の特異性について
• トライボロジーと接触抵抗特性からみたMg添加によるAg-Pd合金の性能向上について(トライボロジー/一般)
• 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について (機構デバイス)
• 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について (信頼性)
• 端子圧着部接続信頼性に関するCAE解析によるアプローチ
• 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究
• Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討
• Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察
• 微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究
• 接触抵抗の荷重依存性について
• Snメッキ接点の詳細観察 (機構デバイス)
• 接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 : 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 : 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 発光ダイオードを用いた電気接点内部の電流密度分布のその場観察(機構デバイス)
• 錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響
• 自動車接点材料用のSn-Cu合金電析とその電気的接続性
• 液体金属を用いたSn酸化被膜の電気的性質の測定
• 自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察
• 錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定
• 錫めっき摺動接点の三次元微細構造
• 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• Snメッキ接点の詳細観察(卒論・修論特集(ショートノート))
• 接触抵抗測定用コンタクトプローブ評価(卒論・修論特集(ショートノート))
• 実車環境における車載コネクタの熱負荷による劣化影響(卒論・修論特集(ショートノート))
• 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 実車環境における車載コネクタ劣化メカニズムの解明(トライボロジー/一般)
• エポキシ複合体の耐電圧寿命に及ぼす水酸化マグネシウムの効果
• 錫めっき銅板での微摺動摩耗に対する間欠時間の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 錫めっき銅板での微摺動摩耗に対する間欠時間の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 摺動の接触荷重-接触抵抗特性への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 摺動の接触荷重-接触抵抗特性への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 錫めっき銅板での微摺動摩耗に対する間欠時間の影響
• 金めっき接点における接触抵抗に及ぼすオイルの影響(卒論・修論特集(ショートノート))
• 摺動の接触荷重-接触抵抗特性への影響
• 錫めっき銅板での微摺動摩耗に対する間欠時間の影響
• 異種金属接点における微摺動摩耗特性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 異種金属接点における微摺動摩耗特性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 接点内を流れる電流の可視化および薄膜が集中抵抗に与える影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 交流インピーダンス測定による錫酸化皮膜の電気特性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 接点内を流れる電流の可視化および薄膜が集中抵抗に与える影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 交流インピーダンス測定による錫酸化皮膜の電気特性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 電流分布観察による接点に対するコンタクトオイルの影響評価(卒論・修論特集(ショートノート))
• 金めっき接点における接触抵抗に及ぼすオイルの影響
• 電気接点に介在するコンタクトオイルに関する研究(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク