シリコーン蒸気汚染による接触不良発生の電気回路条件依存性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
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概要
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シリコーン蒸気に起因するシリコーン汚染で接触デバイスの接触抵抗は増加し接触不良にいたる。この接触不良の発生は負荷の電気条件や接触荷重等の機械的条件に強く依存する。電気負荷条件とデバイスの大きさが決まると接触不良が発生するか否かを決める境界が電気負荷の電圧電流特性から決まる。著者はすでにこの境界線が小形のリレーの抵抗負荷で1.6Wであることを見出した。ここでは、この接触不良発生の1.6Wの限界線を他に報告されている結果や実際のフィールドデータ等から検討した。
- 2009-02-13
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