微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

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概要

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• 近年、車載用コネクタの小型化に伴い接触荷重が低下し、接続の信頼性を確保する上で、微摺動摩耗現象が重要な問題となっている。本研究では、車載用コネクタに用いられているスズめっき接点における同現象の機構を解明することを目的としている。接触抵抗変化が、摩耗粉の発生、酸化、堆積、排除により引き起こされ、これら一連の変化はめっきのスズ、スズの摩耗粉、その酸化物、めっきと母材間の金属間化合物、母材の銅合金の硬度の違いによるものであるとの仮説を立て、それについて検証した。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2008-02-08

著者

• 齋藤 寧

  株式会社オートネットワーク技術研究所

• 服部 康弘

  株式会社オートネットワーク技術研究所

• 伊藤 哲也

  株式会社オートネットワーク技術研究所

• 玉井 輝雄

  三重大学大学院工学研究科社会連携講座車載ネットワーク技術研究室

• 斎藤 寧

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 齋藤 寧

  三重大学

• 飯田 和生

  三重大学大学院社会連携講座

• 齋藤 寧

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 佐藤 尚幸

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 飯田 和生

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 玉井 輝雄

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 飯田 和生

  三重大学大学院工学研究科

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