発光ダイオードを用いた電気接点内部の電流密度分布のその場観察(機構デバイス)
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概要
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電気接点内部における電流集中の挙動については,従来,マクスウェルによる理論式における解や静電場解析による計算結果が報告されている.一方,実際の電流集中の挙動について実験的に行った例については,接点全体の接触抵抗を求めた例は報告されているものの,電流スポット内部での電流密度分布の挙動を観察した例は報告されていない.そのため,本研究では,発光ダイオード用化合物半導体ウェーハを用いて,接点内部の電流密度分布の挙動観察を試みた.その結果,従来報告されている理論及び静電場解析の結果とよく一致しており,接点内部の電流集中の観察手法として,発光ダイオード用半導体ウェーハを用いる手法が有効であることが明らかとなった.
- 2011-04-01
著者
-
服部 康弘
株式会社オートネットワーク技術研究所
-
澤田 滋
三重大学大学院工学研究科社会連携講座車載ネットワーク技術研究室
-
玉井 輝雄
三重大学大学院工学研究科社会連携講座車載ネットワーク技術研究室
-
服部 康弘
(株)オートネットワーク技術研究所
-
澤田 滋
株式会社オートネットワーク技術研究所
-
飯田 和生
三重大学
-
飯田 和生
三重大学工学部
-
飯田 和生
三重大学大学院社会連携講座
-
澤田 滋
三重大学大学院社会連携講座
-
飯田 和生
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
玉井 輝雄
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
-
澤田 滋
三重大学工学部電気電子工学科車載ネットワーク技術研究室
-
玉井 輝雄
エルコンテックコンサルティング
-
飯田 和生
三重大学工学部電気電子工学科車載ネットワーク技術研究室
-
飯田 和生
三重大学大学院工学研究科
-
澤田 滋
三重大学大学院工学研究科
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