玉井 輝雄 | エルコンテックコンサルティング

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概要

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関連著者

• 玉井 輝雄

  エルコンテックコンサルティング

• 服部 康弘

  (株)オートネットワーク技術研究所

• 玉井 輝雄

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 服部 康弘

  株式会社オートネットワーク技術研究所

• 澤田 滋

  株式会社オートネットワーク技術研究所

• 飯田 和生

  三重大学工学部

• 飯田 和生

  三重大学大学院社会連携講座

• 飯田 和生

  三重大学大学院工学研究科

• 飯田 和生

  三重大学

• 澤田 滋

  三重大学工学部電気電子工学科車載ネットワーク技術研究室

• 飯田 和生

  三重大学工学部電気電子工学科車載ネットワーク技術研究室

• 齋藤 寧

  株式会社オートネットワーク技術研究所

• 斎藤 寧

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 澤田 滋

  三重大学大学院工学研究科社会連携講座車載ネットワーク技術研究室

• 玉井 輝雄

  三重大学大学院工学研究科社会連携講座車載ネットワーク技術研究室

• 澤田 滋

  三重大学大学院社会連携講座

• 飯田 和生

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 澤田 滋

  三重大学大学院工学研究科

• 齋藤 寧

  三重大学

• 玉井 輝雄

  三重大学工学部

• 澤田 滋

  三重大学工学部車載ネットワーク技術研究室

• 齋藤 寧

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 筑地 茂樹

  三重大学工学部

• 澤田 滋

  三重大学工学部

• 増井 壮志

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 笹山 昇吾

  三重大学工学部

• 鍋田 佑也

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 齋藤 寧

  三重大学工学部

• 清水 敦

  (株)オートネットワーク技術研究所

• 玉井 輝雄

  三重大学

• 澤田 滋

  三重大学 工学部 車載ネットワーク技術研究室

• 猿渡 裕也

  三重大学工学部

• 清水 敦

  三重大学工学部

• 島田 茂樹

  住友電気工業

• 伊藤 哲也

  株式会社オートネットワーク技術研究所

• 富永 裕一

  三重大学工学研究科車載ネットワーク研究室

• 山中 拓哉

  (株)オートネットワーク技術研究所回路接続研究部基盤技術研究室

• 平林 仁

  三重大学工学部

• 大平 悟

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 猿渡 裕也

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 玉井 輝雄

  株式会社オートネットワーク技術研究所

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著作論文

• 見掛けの面積の集中抵抗に及ぼす真実接触点の影響(トライボロジー/一般)
• Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性及び機械的特性についての影響(ショートノート(卒論・修論発表会))
• コネクタ寿命に対する微摺動摩擦現象における摺動距離の影響
• 微摺動磨耗現象に関する流動パラフィンの効果について(ショートノート(卒論・修論発表会))
• 自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 錫めっき摺動接点に堆積した酸化物厚みと接触抵抗の関係(ショートノート(卒論・修論発表会))
• 錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 発光ダイオードを用いた電気接点内部の電流密度分布のその場観察(機構デバイス)
• 錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定
• 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 接触抵抗測定用コンタクトプローブ評価(卒論・修論特集(ショートノート))
• 実車環境における車載コネクタの熱負荷による劣化影響(卒論・修論特集(ショートノート))
• 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 実車環境における車載コネクタ劣化メカニズムの解明(トライボロジー/一般)
• 摺動の接触荷重-接触抵抗特性への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 摺動の接触荷重-接触抵抗特性への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 摺動の接触荷重-接触抵抗特性への影響
• 接点内を流れる電流の可視化および薄膜が集中抵抗に与える影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 接点内を流れる電流の可視化および薄膜が集中抵抗に与える影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

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