発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察 (機構デバイス)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2011-02-18
著者
関連論文
- 見掛けの面積の集中抵抗に及ぼす真実接触点の影響(トライボロジー/一般)
- 第24回電気接点に関する国際会議ICEC2008(フランス)概要報告(トライボロジ・一般)
- 車載コネクタ接点に用いられる金属の接触荷重-接触抵抗特性について(ショートノート(卒論・修論特集))
- 錫(Sn)めっき表面での酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 : エリプソメトリによる研究(ショートノート(卒論・修論特集))
- 微摺動摩耗現象への流動パラフィンの効果の研究(ショートノート(卒論・修論特集))
- 実車環境の把握と車載コネクタ劣化メカニズムの解明(ショートノート(卒論・修論特集))
- 自動車接点材料用のSn-Ag合金電析とその電気的接続性
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告(その2)
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts : 概容報告(その1)
- 21st International Conference on Electrical Contacts(第21回接点国際会議)概要報告(フェロー記念講演・一般)
- 2000年題46回IEEE電気接点ホルム国際会議報告
- シリコーン蒸気汚染による接触不良発生の電気回路条件依存性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- すずめっき接点を用いた繰り返し開閉時の接触荷重-接触抵抗特性(ショートノート(卒論・修論特集))
- 自動車用コネクタ錫めっきにおける摩擦係数の荷重依存性
- 錫および銀めっき電気接点における接触抵抗挙動解析(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫(Sn)めっき表面の酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 : エリプソメトリによる研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫めっき微摺動接点の微細構造観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 第52回電気接点に関するIEEEホルム会議の概要報告
- Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性及び機械的特性についての影響(ショートノート(卒論・修論発表会))
- コネクタ寿命に対する微摺動摩擦現象における摺動距離の影響
- 微摺動磨耗現象に関する流動パラフィンの効果について(ショートノート(卒論・修論発表会))
- 自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Ag-Pd-Mg合金接点の耐シリコーン汚染性のメカニズムについて
- 錫めっき摺動接点に堆積した酸化物厚みと接触抵抗の関係(ショートノート(卒論・修論発表会))
- 液体金属を用いたSn酸化被膜の電気的性質の測定(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 液体金属を用いたSn酸化被膜の電気的性質の測定(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫および銀めっき電気接点における接触抵抗挙動解析(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫(Sn)めっき表面の酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 : エリプソメトリによる研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫めっき微摺動接点の微細構造観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Sn,Al,In等の軟質金属接触部の接触抵抗特性(トライボロジ・一般)
- 接触抵抗特性に作用する大気中の湿度の影響
- 接触抵抗特性に作用する大気中の湿度の影響
- Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 実車環境の把握とコネクタ劣化メカニズムの解明(ショートノート(卒論・修論特集))
- 接触抵抗の接触荷重、接触面積依存性と被膜破壊の影響(ショートノート(卒論・修論特集))
- スズめっき接点における微摺動摩耗現象に与える摺動振幅の影響(ショートノート(卒論・修論特集))
- The 51^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告
- 地震防災用リレーの信頼性に関する研究
- 錫(Sn)接触部の接触抵抗特性の特異性について
- トライボロジーと接触抵抗特性からみたMg添加によるAg-Pd合金の性能向上について(トライボロジー/一般)
- 錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定 (機構デバイス)
- 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について (機構デバイス)
- 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について (信頼性)
- 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察 (機構デバイス)
- 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察 (信頼性)
- 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究
- Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討
- Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察
- 微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究
- 接触抵抗の荷重依存性について
- IC-REPEC2004概要報告
- シリコーン蒸気汚染による接触信頼性の低下を抑制する因子と加速する因子について(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 電気接点表面と接触のメカニズム
- 接触境界部に介在する汚染皮膜の電気的破壊による低接触抵抗の回復とそのメカニズム
- SC-5-3 STM(走査トンネル電子顕微鏡)による接触面のトポグラフ像と仕事関数像
- SC-4-5 シリコーン蒸気環境で優れた接触特性を示すAg-Pd-Mg合金について
- 新しく開発したAg-Pd-Mg合金における低接触抵抗のメカニズム
- 新しく開発したAg-Pd-Mg合金における低接触抵抗のメカニズム
- シリコーン蒸気中で開閉する接触面で生ずる特異な接触痕跡パターンについて
- 接触不良に対するシリコーンの分解と放電条件
- シリコーン汚染とシリコーン蒸気の分解過程
- シリコーン蒸気汚染による接触不良発生の電気回路条件依存性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 発光ダイオードを用いた電気接点内部の電流密度分布のその場観察
- 接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 : 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 : 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 発光ダイオードを用いた電気接点内部の電流密度分布のその場観察(機構デバイス)
- 錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響
- 自動車接点材料用のSn-Cu合金電析とその電気的接続性
- 液体金属を用いたSn酸化被膜の電気的性質の測定
- 自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察
- 接触信頼性に及ぼすシリコーン蒸気の影響 : SiO_2生成に対する接触面の印加電圧の極性依存性(「トライボロジー」)
- 錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定
- 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- Snメッキ接点の詳細観察(卒論・修論特集(ショートノート))
- 接触抵抗測定用コンタクトプローブ評価(卒論・修論特集(ショートノート))
- 実車環境における車載コネクタの熱負荷による劣化影響(卒論・修論特集(ショートノート))
- 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 実車環境における車載コネクタ劣化メカニズムの解明(トライボロジー/一般)
- 錫めっき銅板での微摺動摩耗に対する間欠時間の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 錫めっき銅板での微摺動摩耗に対する間欠時間の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 金めっき接点における接触抵抗に及ぼすオイルの影響(卒論・修論特集(ショートノート))
- 錫めっき鋼板での微摺動摩耗に対する間欠時間の影響
- 接点内を流れる電流の可視化および薄膜が集中抵抗に与える影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 交流インピーダンス測定による錫酸化皮膜の電気特性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 接点内を流れる電流の可視化および薄膜が集中抵抗に与える影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 交流インピーダンス測定による錫酸化皮膜の電気特性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 電流分布観察による接点に対するコンタクトオイルの影響評価(卒論・修論特集(ショートノート))
- 電気接点に介在するコンタクトオイルに関する研究(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)