関川 純哉 | 静岡大学工学部電気・電子工学科

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概要

• 同名の論文著者
• 静岡大学工学部電気・電子工学科の論文著者

関連著者

• 関川 純哉

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 関川 純哉

  静岡大学工学部

• 窪野 隆能

  静岡大学

• 窪野 隆能

  静岡大学工学部光電機械工学科

• 窪野 隆能

  静岡大学工学部

• 関川 純哉

  静岡大学工学研究科

• Sekikawa Junya

  Faculty Of Engineering And Design Kyoto Institute Of Technology

• 山崎 亮

  静岡大学大学院理工学研究科

• 山崎 亮

  Studio-l

• 関川 純哉

  静岡大学

• 竹内 満

  名古屋市工業研究所

• 長谷川 誠

  千歳科学技術大学

• 中山 崇嗣

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 北嶋 哲也

  静岡大学大学院理工学研究科 電気・電子工学専攻

• 北嶋 哲也

  静岡大学大学院理工学研究科

• 遠藤 隆良

  静岡大学大学院理工学研究科 電気電子工学専攻

• 小野 仁

  広島大学大学院工学研究科

• 小野 仁

  静岡大学大学院工学研究科

• 小野 仁

  東京大医学部附属病院医療機器・材料管理部MEセンター

• 渡邊 隆志

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 小野 仁

  日立東北ソフトウエア(株)

• 長谷川 誠

  千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科

• 渡辺 純平

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 山梨 洋平

  静岡大学大学院工学研究科

• 齋藤 愿治

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 小野 仁

  応用地質(株)九州支社技術部

• 伊藤 友哉

  静岡大学大学院理工学研究科

• 渡辺 純平

  静岡大学大学院理工学研究科

• 齋藤 愿治

  静岡大学工学部

• 宮司 勝吉

  静岡大学工学部

• 佐野 純

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 河村 隆行

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 中山 崇嗣

  静岡大学大学院理工学研究科

• 渥美 友裕

  静岡大学大学院工学研究科

• 杉浦 徹

  静岡大学工学研究科

• 杉浦 徹

  静岡大学

• 渡辺 克忠

  工学院大

• 若月 昇

  石巻専修大

• 渡辺 克忠

  工学院大学工学部電気システム工学科准教授

• 廣瀬 圭一

  NTTファシリティーズ

• 玉井 輝雄

  兵庫教育大学

• 山崎 亮

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 渡辺 克忠

  工学院大学

• 廣瀬 圭一

  (株)NTTファシリティーズ 研究開発本部

• 柚場 誉嗣

  富士通コンポーネント

• 桐生 幸一

  富士通コンポーネント

• 中村 昭夫

  富士通コンポーネント

• 澤 孝一郎

  慶應義塾大学

• 玉井 輝雄

  三重大:機構デバイス研究専門委員会

• 鈴木 紀敦

  静岡大学大学院理工学研究科

• 竹下 直弥

  静岡大学工学部

• 内藤 愉孝

  静岡大学大学院理工学研究科

• 澤 孝一郎

  日本工業大学工学部

• 若月 昇

  石巻専修大理工

• 山崎 亮

  静岡大学理工学研究科

• 玉井 輝雄

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 柚場 誉嗣

  富士通コンポーネント(株)技術開発センター

• 宮司 勝吉

  静岡大学大学院工学研究科

• 井上 浩

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 高木 相

  東北大学

• 廣瀬 圭一

  株式会社nttファシリティーズ

• 澤 孝一郎

  慶應義塾大学理工学部

• 高木 相

  東北大学:東北文化学園大学科学技術学部

• 高木 相

  東北文化学園大学

• 石田 広幸

  東北文化学園大学

• 高野 栄助

  コンサルタント

• 伊藤 寿浩

  東京大学

• 高橋 光弥

  田中貴金属工業

• 井上 浩

  秋田大:機構デバイス研究専門委員会

• 井上 浩

  秋田大学

• 石田 広幸

  東北文化学園大 科学技術

• 竹下 直弥

  静岡大学大学院工学研究科

• 高木 相

  東北大

• 酒井 大輔

  静岡大学大学院理工学研究科

• 中村 好延

  静岡大学大学院理工学研究科 電気電子工学専攻

• 伊藤 義訓

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 遠藤 隆良

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 渡辺 純平

  静岡大学 大学院理工学研究科 電気電子工学専攻

• 山崎 亮

  静岡大学 大学院理工学研究科 電気電子工学専攻

• 石田 広幸

  東北文化学園大学科学技術学部

• 石田 広幸

  東北文化学園大学科学技術応用情報工学科

• 渡邊 隆志

  静岡大学理工学研究科電気電子工学専攻

• 中山 崇嗣

  静岡大学理工学研究科電気電子工学専攻

• 渡邊 隆志

  静岡大学大学院理工学研究科

• 則竹 政俊

  株式会社nttファシリティーズ研究開発本部

• 中村 昭夫

  富士通コンポーネント(株)技術開発センター

• 山崎 亮

  株式会社Studio-L:京都造形大学

• 上野 貴博

  日本工業大学

• 森田 登

  日本工業大学

• 本保 亮一

  (株)デンソー

• 平松 直樹

  静岡大学 工学部 電気・電子工学科

• 小野 仁

  静岡大学工学部

• 飯野 智紀

  NTTファシリティーズ

• 有本 英樹

  名古屋大学大学院工学研究科

• 沢 孝一郎

  慶應義塾大学大学院

• 渡会 伸幸

  名古屋大学大学院工学研究科

• 真木 伸介

  名古屋大学大学院工学研究科

• 山家 清之

  名古屋大学大学院工学研究科

• 佐藤 紘一

  名古屋大学大学院工学研究科

• 杉本 和是

  アンデン株式会社

• 杉尾 匠

  静岡大学工学部電気電子工学科

• 山田 真宏

  静岡大学工学部電気電子工学科

• 杉尾 匠

  静岡大学大学院工学研究科

• 佐藤 紘一

  名大プラ研

• 木浪 宏之

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 平松 直樹

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 木浪 宏之

  静岡大学 工学部 電気・電子工学科

• 北嶋 哲也

  静岡大学理工学研究科

• 竹内 満

  名古屋工業研究所

• 宮澤 英夫

  富士通高見澤コンポーネント

• 伊藤 友哉

  静岡大学理工学研究科

• 内藤 愉孝

  静岡大学理工学研究科

• 山梨 洋平

  静岡大学工学研究科

• 山崎 亮

  (株)エス・イー・エヌ環境計画室

• 山田 芳郎

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 上野 貴博

  日本工業大学工学部

• 則竹 政俊

  (株)NTTファシリティーズ研究開発本部

• 則竹 政俊

  NTTファシリティーズ

• 宮澤 英夫

  富士通コンポーネント

• 杉浦 徹

  静岡大学大学院工学研究科

• 有本 英樹

  名古屋大学プラズマ研究所

• 原 拓也

  静岡大学工学研究科

• 中村 真人

  静岡大学工学研究科

• 佐々木 友彰

  静岡大学工学研究科

• 佐藤 紘一

  名古屋大学プラズマ研究所

• 有本 英樹

  名古屋大学　工学研究科エネルギー理工学専攻

• 廣瀬 圭一

  (株)NTTファシリティーズ エネルギー事業本部

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著作論文

• 直流回路におけるAg接点対間で発生する開離時アークの継続時間に対する横磁界の影響 (機構デバイス)
• 片持ち梁支持片の先端に取り付けた電気接点対におけるワイピング動作中のチャッタと転移突起との関係(機構デバイス)
• 直流20-500V/5-30A回路における開離時アークの諸特性(放電・EMC/一般)
• The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告(その2)
• The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts : 概容報告(その1)
• SC-3-2 DC 42V-7Ωと 5Ω抵抗性回路を開閉するリレー搭載 AgNi10% 電気接点対での転移突起観察
• C-5-1 DC42V-6A 抵抗性回路内の継電器搭載 Pd 電気接点での転移方向
• 42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 400V直流給電システム用コンセントバーと電源プラグの開発について
• 逆転磁場ピンチプラズマにおけるイオンエネルギースペクトルの時間発展計測
• C-5-11 陰極に埋め込まれた永久磁石によって回転駆動される開離時アークの継続時間と回転周波数(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-10 直流高電圧回路内で横磁界により駆動される開離時アーク(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 高沸点電極における真空アーク陰極足の特性値の比較
• 高沸点電極における真空アーク陰極足の特性値の比較
• Ag電気接点に埋め込まれた永久磁石によって磁気駆動される開離時アークの回転速度
• 直流20-500V/5-30A回路における開離時アークの諸特性(放電・EMC/一般)
• CS-7-4 直流抵抗性負荷回路内で永久磁石によって回転駆動される開離時アークの諸特性(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
• C-5-4 直流高電圧10A回路でのアーチ状開離時アークの諸特性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 直流42V/7-21A回路内の電気接点対間で発生する開離時アークの小形磁石による磁界駆動(放電・回路/一般)
• 直流42V/7-21A回路内の電気接点対間で発生する開離時アークの小形磁石による磁界駆動(放電・回路/一般)
• C-5-6 閉成責務動作接点対でのアーク足の存在場所(C-5.機構デバイス,一般講演)
• Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
• Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
• Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
• CS-5-4 接点開離直後の間欠的アーク放電の発生メカニズム(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
• C-5-2 リレー搭載の閉成責務動作接点対におけるスチッキング発生時前後の復旧時間の変化(C-5.機構デバイス,エレクトロニクス2)
• CS-5-3 片持ち梁支持片に載せたAgやAg/SnO_2の閉成責務動作接点対における分離時電圧波形(CS-5. 接触・接続技術の課題と今後の展望, エレクトロニクス2)
• リレー搭載閉成責務接点対でのスチッキング発生時の接点間電圧波形(機構デバイス)
• 電気接点に埋め込まれた永久磁石の極性が開離時アークの回転運動に与える影響
• C-5-10 電磁リレーに搭載された電気接点対の陰極側に埋め込まれた永久磁石によるアーク放電の回転駆動(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-9 永久磁石を埋め込む極性が開離時アークの回転駆動に与える影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-8 横磁界印加時の開離時アークの継続時間と開離速度の関係(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-7 直流高電圧回路内で横磁界により駆動される開離時アークに作用するローレンツ力とそのアーク長さ(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 直流回路におけるAg接点対間で発生する開離時アークの継続時間に対する横磁界の影響(放電,実装,EMC,一般)
• 直流回路におけるAg接点対間で発生する開離時アークの継続時間に対する横磁界の影響(放電,実装,EMC,一般)
• 銅電気接点対における開離時アークの分光特性
• Cu, Ni, Pd 電気接点対で発生する開離時アークの温度測定
• Cu, Ni, Pd電気接点対で発生する開離時アークの温度測定
• リレー搭載閉成責務動作接点対での分離時電圧波形 : 分離動作時のワイピング作用中のチャッター
• C-5-9 20A抵抗回路で閉成責務動作するリレー接点での分離不良の一原因(C-5.機構デバイス)
• 銅電気接点対での開離時アークの電圧・電流・温度・金属蒸気密度の関係
• 銅電気接点対での開離時アークの電圧・電流・温度・金属蒸気密度の関係
• SC-3-8 Cu 電気接点対における開離時アークの温度測定
• The 51^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告
• 42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• Ag接点開離時アークにおける開離速度と輝点運動と電圧波形との関係
• Ag接点開離時アークにおける開離速度と輝点運動と電圧波形との関係
• 開離動作毎のアーク輝点の移動範囲と接点表面状態の観察
• 銅電気接点対の接触面形状を変えた場合のアークスポット挙動の違い
• 開離動作毎のアーク輝点の移動範囲と接点表面状態の観察
• 銅電気接点対の接触面形状を変えた場合のアークスポット挙動の違い
• 高速度カメラによる開離時アークの発光分布計測
• 高速度カメラによる開離時アークの発光分布計測
• AgNi10wt%電気接点対の転移突起成長と電気的特性
• 直流42V-4.2A回路を開閉するAg系電気接点対における材料転移の方向について
• AgNi10wt%電気接点対の転移突起成長と電気的特性
• 直流42V-4.2A回路を開閉するAg系電気接点対における材料転移の方向について
• 直流42V回路を開閉する電気接点対の材料の違いによる突起の成長過程の比較・検討(「ショートノート」(卒業・修論特集))
• 14V-21A回路を開閉するリレー搭載Ag, Pd電気接点対でのアーク転移の方向について(「ショートノート」(卒業・修論特集))
• 直流42V回路を開閉する電気接点対の材料の違いによる突起の成長過程の比較・検討
• 直流回路を開閉する接点対に形成される転移突起の接触面上での位置と形状
• 直流回路を開閉する接点対に形成される転移突起の接触面上での位置と形状
• 直流14V及び42V回路内のAgSnO_2電気接点の転移突起に関する研究
• 直流14V及び42V回路内のAgSnO_2電気接点の転移突起に関する研究
• 電気接点の表面粗さと接触抵抗の関係
• リレー搭載Pd電気接点対でのアーク転移の方向について : 直流42Vの4〜10A抵抗性回路を断続する場合
• C-5-3 継続器搭載電気接点の損傷とバウンスと動作・復旧時間 : (その5) 42V-5Ω抵抗回路でのPd接点対の損傷
• 閉成責務電気接点における接触面損傷とバウンスの特性
• AgCdO12wt%電気接点対の突起成長と電気的特性
• 閉成責務電気接点における接触面損傷とバウンスの特性
• AgCdO12twq%電気接点対の突起成長と電気的特性
• C-5-4 継電器搭載電気接点の損傷とバウンスと動作・復旧時間(その1)スチッキング発生時のバウンス特性
• 継電器電気接点でのバウンスと転移突起の関係
• CS-2-2 直流高電圧回路内で横磁界により駆動される開離時アークのアークの長さ(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
• CS-2-4 電気接点に埋め込まれた永久磁石による開離時アークの回転駆動効果の電流依存性(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
• CS-2-3 永久磁石埋め込み型接点で回転駆動される開離時アークの回転半径(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
• 直流配電用プラグ&ソケットの開発(スマートグリッド分野のエネルギー変換技術関連,一般)
• 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• C-5-8 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布の開離速度依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-5 直流300V抵抗性負荷回路内において磁気吹き消しされる開離時アーク消弧時のアーク長さの磁石形状依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 開離時アーク後の領域ごとの接点表面状態と接触抵抗(放電,EMC/一般)
• 開離時アーク後の領域ごとの接点表面状態と接触抵抗(放電,EMC/一般)
• 高電圧直流回路内で横磁界により駆動される開離時アークの消弧直前の電圧の時間変化(放電,EMC/一般)
• 高電圧直流回路内で横磁界により駆動される開離時アークの消弧直前の電圧の時間変化(放電,EMC/一般)
• CS-3-3 直流450V回路内において磁気吹き消しされる開離時アークの再点弧の有無によるアーク長さの違い(CS-3.コネクタおよび電気接点関連技術の最新動向-直流から高周波まで-,シンポジウムセッション)
• 直流48V回路における開離時アークの移動範囲と接点表面の曲率半径の関係
• 直流400V級配電システム用プラグ&ソケットの開発
• 開離時アーク後の接点表面状態と接触抵抗分布の接点開離速度依存性
• C-5-11 Ag,Ag/SnO_2接点間アークにおける輸送係数の計算(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• C-5-8 開離時アークに接している電気接点表面の高速度分光撮影方法(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• C-5-9 横磁界によって駆動される開離時アークの移動特性(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• C-5-13 磁気吹き消しされる開離時アークの輝点の動き(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• C-5-6 開離時アーク発生中の接点表面とアーク放電光の高速度同時撮影(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• 壁により移動範囲を制限される開離時アークの磁気吹き消し(機構デバイス)
• 壁により移動範囲を制限される開離時アークの磁気吹き消し(放電・実装,EMC,一般)
• 壁により移動範囲を制限される開離時アークの磁気吹き消し(放電・実装,EMC,一般)

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