42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(<特集>機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
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概要
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AgCdO12wt%電気接点対を継電器に搭載し、直流42V-5Ωと42V-7Ω抵抗性回路内で閉成責務動作と開離責務動作を行なう。アーク継続時間、バウンス回数測定し、デジタルカメラを用いて転移突起の成長過程を1,000回ごとに撮影する。どちらの回路においても閉成責務動作では陰極側電気接点に大きな転移突起が形成される。開離責務動作させた試料では、42V-5Ω抵抗性回路中で実験させた試料のうち、アーク放電継続時間が長い試料3個においては陽極に丘状の転移物が存在し、アーク放電継続時間が短い試料3個においては陰極側に小さな突起が存在する。なお、42V-7Ω抵抗性回路を開離責務した試料全部で陰極に小さな突起が形成される。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-14
著者
-
窪野 隆能
静岡大学工学部光電機械工学科
-
佐野 純
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
関川 純哉
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
中山 崇嗣
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
河村 隆行
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
山崎 亮
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
中山 崇嗣
静岡大学大学院理工学研究科
-
山崎 亮
静岡大学大学院理工学研究科
-
窪野 隆能
静岡大学
-
関川 純哉
静岡大学工学部
-
山崎 亮
Studio-l
-
窪野 隆能
静岡大学工学部
-
関川 純哉
静岡大学工学研究科
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