42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(<特集>機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
AgCdO12wt%電気接点対を継電器に搭載し、直流42V-5Ωと42V-7Ω抵抗性回路内で閉成責務動作と開離責務動作を行なう。アーク継続時間、バウンス回数測定し、デジタルカメラを用いて転移突起の成長過程を1,000回ごとに撮影する。どちらの回路においても閉成責務動作では陰極側電気接点に大きな転移突起が形成される。開離責務動作させた試料では、42V-5Ω抵抗性回路中で実験させた試料のうち、アーク放電継続時間が長い試料3個においては陽極に丘状の転移物が存在し、アーク放電継続時間が短い試料3個においては陰極側に小さな突起が存在する。なお、42V-7Ω抵抗性回路を開離責務した試料全部で陰極に小さな突起が形成される。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-14
著者
-
窪野 隆能
静岡大学工学部光電機械工学科
-
佐野 純
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
関川 純哉
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
中山 崇嗣
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
河村 隆行
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
山崎 亮
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
中山 崇嗣
静岡大学大学院理工学研究科
-
山崎 亮
静岡大学大学院理工学研究科
-
関川 純哉
静岡大学工学部
-
山崎 亮
Studio-l
-
窪野 隆能
静岡大学工学部
-
関川 純哉
静岡大学工学研究科
関連論文
- 直流回路におけるAg接点対間で発生する開離時アークの継続時間に対する横磁界の影響 (機構デバイス)
- 直流30V-10A抵抗回路を開閉する継電器電気接点Ag/Cd11Wt%の諸特性
- 片持ち梁支持片の先端に取り付けた電気接点対におけるワイピング動作中のチャッタと転移突起との関係(機構デバイス)
- 直流20-500V/5-30A回路における開離時アークの諸特性(放電・EMC/一般)
- SC-3-2 DC 42V-7Ωと 5Ω抵抗性回路を開閉するリレー搭載 AgNi10% 電気接点対での転移突起観察
- 42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- C-5-11 陰極に埋め込まれた永久磁石によって回転駆動される開離時アークの継続時間と回転周波数(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-10 直流高電圧回路内で横磁界により駆動される開離時アーク(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 高沸点電極における真空アーク陰極足の特性値の比較
- 高沸点電極における真空アーク陰極足の特性値の比較
- Ag電気接点に埋め込まれた永久磁石によって磁気駆動される開離時アークの回転速度
- 直流20-500V/5-30A回路における開離時アークの諸特性(放電・EMC/一般)
- CS-7-4 直流抵抗性負荷回路内で永久磁石によって回転駆動される開離時アークの諸特性(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
- C-5-4 直流高電圧10A回路でのアーチ状開離時アークの諸特性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 直流42V/7-21A回路内の電気接点対間で発生する開離時アークの小形磁石による磁界駆動(放電・回路/一般)
- 直流42V/7-21A回路内の電気接点対間で発生する開離時アークの小形磁石による磁界駆動(放電・回路/一般)
- C-5-6 閉成責務動作接点対でのアーク足の存在場所(C-5.機構デバイス,一般講演)
- Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
- Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
- Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
- CS-5-4 接点開離直後の間欠的アーク放電の発生メカニズム(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
- IA 脱・環境ホルモン社会 : 未来の奪回をめざして
- C-5-2 リレー搭載の閉成責務動作接点対におけるスチッキング発生時前後の復旧時間の変化(C-5.機構デバイス,エレクトロニクス2)
- CS-5-3 片持ち梁支持片に載せたAgやAg/SnO_2の閉成責務動作接点対における分離時電圧波形(CS-5. 接触・接続技術の課題と今後の展望, エレクトロニクス2)
- リレー搭載閉成責務接点対でのスチッキング発生時の接点間電圧波形(機構デバイス)
- デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み(第2報)
- C-5-16 レーザ顕微鏡データを用いた体積計測プログラム開発の試み(C-5.機構デバイス)
- 電気接点に埋め込まれた永久磁石の極性が開離時アークの回転運動に与える影響
- C-5-10 電磁リレーに搭載された電気接点対の陰極側に埋め込まれた永久磁石によるアーク放電の回転駆動(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-9 永久磁石を埋め込む極性が開離時アークの回転駆動に与える影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-8 横磁界印加時の開離時アークの継続時間と開離速度の関係(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-7 直流高電圧回路内で横磁界により駆動される開離時アークに作用するローレンツ力とそのアーク長さ(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 直流回路におけるAg接点対間で発生する開離時アークの継続時間に対する横磁界の影響(放電,実装,EMC,一般)
- 直流回路におけるAg接点対間で発生する開離時アークの継続時間に対する横磁界の影響(放電,実装,EMC,一般)
- 銅電気接点対における開離時アークの分光特性
- 電気接点粘着力測定装置およびAu電気接点での測定結果
- Au電気接点でしゅう動回数が粘着力に及ぼす影響 (機構デバイスの新しい展開とその基礎論文小特集)
- Cu, Ni, Pd 電気接点対で発生する開離時アークの温度測定
- Cu, Ni, Pd電気接点対で発生する開離時アークの温度測定
- リレー搭載閉成責務動作接点対での分離時電圧波形 : 分離動作時のワイピング作用中のチャッター
- C-5-9 20A抵抗回路で閉成責務動作するリレー接点での分離不良の一原因(C-5.機構デバイス)
- 銅電気接点対での開離時アークの電圧・電流・温度・金属蒸気密度の関係
- 銅電気接点対での開離時アークの電圧・電流・温度・金属蒸気密度の関係
- SC-3-8 Cu 電気接点対における開離時アークの温度測定
- 開離時アークによる電極の消耗と転移量に関する一実験
- C-5-6 銀電極の開離時アークによる放射磁界
- 開離時アークによる電極の消耗と転移量
- 開離時アークによる電極の消耗と転移量
- C-5-5 PSDによる開離時アーク輝点の垂直移動距離の計測
- スイッチングアーク発光スペクトルの空間分布に関する研究(その9) : 銅開離時アークの分光計測
- スイッチングアーク発光スペクトルの空間分布に関する研究(その9) : 銅開離時アークの分光計測
- CCDカラーカメラと追加フィルタを使った銅開離時アークの分光測定
- 多重電離イオンを考慮した真空アーク陰極足1個を通過する電流範囲の理論的検討
- 多重電離イオンを含むアーク電流範囲の検討
- デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み
- デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み
- 銅やニッケル電気接点対での開離時アークの分光温度計測
- 銅電気接点での開離時アークの分光温度測定
- 銅電気接点での開離時アークの分光温度測定
- Cu電気接点におけるDC50V-10A回路遮断時のアーク温度分光測定
- 開離時アークの放電後期における光強度急増現象に関する実験的検討
- 42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Ag接点開離時アークにおける開離速度と輝点運動と電圧波形との関係
- Ag接点開離時アークにおける開離速度と輝点運動と電圧波形との関係
- 開離動作毎のアーク輝点の移動範囲と接点表面状態の観察
- 銅電気接点対の接触面形状を変えた場合のアークスポット挙動の違い
- 開離動作毎のアーク輝点の移動範囲と接点表面状態の観察
- 銅電気接点対の接触面形状を変えた場合のアークスポット挙動の違い
- 高速度カメラによる開離時アークの発光分布計測
- 高速度カメラによる開離時アークの発光分布計測
- AgNi10wt%電気接点対の転移突起成長と電気的特性
- 直流42V-4.2A回路を開閉するAg系電気接点対における材料転移の方向について
- AgNi10wt%電気接点対の転移突起成長と電気的特性
- 直流42V-4.2A回路を開閉するAg系電気接点対における材料転移の方向について
- 直流42V回路を開閉する電気接点対の材料の違いによる突起の成長過程の比較・検討(「ショートノート」(卒業・修論特集))
- 14V-21A回路を開閉するリレー搭載Ag, Pd電気接点対でのアーク転移の方向について(「ショートノート」(卒業・修論特集))
- 直流42V回路を開閉する電気接点対の材料の違いによる突起の成長過程の比較・検討
- 直流回路を開閉する接点対に形成される転移突起の接触面上での位置と形状
- 直流回路を開閉する接点対に形成される転移突起の接触面上での位置と形状
- 直流14V及び42V回路内のAgSnO_2電気接点の転移突起に関する研究
- 直流14V及び42V回路内のAgSnO_2電気接点の転移突起に関する研究
- 電気接点の表面粗さと接触抵抗の関係
- 交流誘導負荷を開閉する継電器電気接点の諸特性測定
- AuとCu電気接点対での開離時アークの分光測定
- 特定時刻に開閉する交流回路内電気椄点でのデータ分布
- 継電器電気接点の諸特性に及ぼす開閉動作間隔の影響
- 交流回路特定開閉時刻によるアーク諸特性へのワイブル分布関数の適用
- 継電器電気接点の諸特性に及ぼす開閉間隔の影響(その2)
- 継電器電気接点の諸特性に及ぼす開閉間隔の影響
- DC30V-Ω回路でのAg/CdO12wt%電気接点の責務動作と転移との関係
- 直流抵抗回路を開閉するAg-Cd系電気接点でのスイッチングアーク特性
- 開離時アークのインピーダンスの誘導方法について
- CuとAgの組合わせ電極対における開離時アークの放電光測定
- 先端部のみ並列配置の支持片に搭載された開閉電気接点対の諸特性
- C-5-2 接触抵抗-荷重特性測定装置の製作(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 大気中銀電気接点遮断アークの可視光領域スペクトルの解析
- リレー搭載Pd電気接点対でのアーク転移の方向について : 直流42Vの4〜10A抵抗性回路を断続する場合
- Au電気接点での摺動距離, 摺動回数と粘着力の関係
- Au電気接点での摺動回数と粘着力の関係
- 100V交流負荷をAC3級試験で開閉する継電器電気接点の損傷面観察