直流42V回路を開閉する電気接点対の材料の違いによる突起の成長過程の比較・検討(「ショートノート」(卒業・修論特集))
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概要
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小型リレーに搭載したAgPd、AgNi、Ag接点対を直流42V-4.2A抵抗性回路内で閉成責務動作と開離責務動作を個別に行い、転移突起をディジタルカメラで撮影して転移突起の高さと根元太さを測定した。AgPd接点は開離責務動作接点の陽極側に、AgNi接点では閉成責務動作接点の陰極側に、Ag接点は閉成責務動作接点や開離責務動作接点の陽極側にそれぞれ転移突起が形成された。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-03-04
著者
-
窪野 隆能
静岡大学工学部光電機械工学科
-
関川 純哉
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
山崎 亮
静岡大学大学院理工学研究科
-
窪野 隆能
静岡大学
-
渡辺 純平
静岡大学大学院理工学研究科
-
山崎 亮
静岡大学理工学研究科
-
渡辺 純平
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
関川 純哉
静岡大学工学部
-
山崎 亮
Studio-l
-
窪野 隆能
静岡大学工学部
-
関川 純哉
静岡大学工学研究科
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