AgNi10wt%電気接点対の転移突起成長と電気的特性
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概要
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AgNi10wt%電気接点対を電磁継電器に搭載し、直流42V-7、10Ω抵抗性回路内において閉成責務動作と開離責務動作を個別に行い、各責務動作ごとに電気的特性を測定した。また、1,000回ごとに転移突起の成長過程を写真撮影した。その結果、閉成責務動作接点の陰極側に転移突起が形成され、陰極側にそれに対する窪みが形成された。突起の形状は比較的背の低く、根元の太いものであった。今回の実験において、開離不良(スチッキング)は発生しなかった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-02-10
著者
-
窪野 隆能
静岡大学工学部光電機械工学科
-
関川 純哉
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
山崎 亮
静岡大学大学院理工学研究科
-
窪野 隆能
静岡大学
-
渡辺 純平
静岡大学 大学院理工学研究科 電気電子工学専攻
-
山崎 亮
静岡大学 大学院理工学研究科 電気電子工学専攻
-
渡辺 純平
静岡大学大学院理工学研究科
-
渡辺 純平
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
関川 純哉
静岡大学工学部
-
山崎 亮
Studio-l
-
Sekikawa Junya
Faculty Of Engineering And Design Kyoto Institute Of Technology
-
窪野 隆能
静岡大学工学部
-
関川 純哉
静岡大学工学研究科
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