窪野 隆能 | 静岡大学工学部
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概要
関連著者
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窪野 隆能
静岡大学工学部
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窪野 隆能
静岡大学工学部光電機械工学科
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関川 純哉
静岡大学工学部
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関川 純哉
静岡大学工学部電気・電子工学科
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窪野 隆能
静岡大学
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関川 純哉
静岡大学工学研究科
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Sekikawa Junya
Faculty Of Engineering And Design Kyoto Institute Of Technology
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竹内 満
名古屋市工業研究所
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山崎 亮
静岡大学大学院理工学研究科
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山崎 亮
Studio-l
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最上 正彦
静岡大学
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渡邊 隆志
静岡大学工学部電気・電子工学科
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最上 正彦
静岡大学工学部理工学研究科
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小林 篤人
(株)高見澤電機製作所
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長谷川 誠
千歳科学技術大学
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北嶋 哲也
静岡大学大学院理工学研究科 電気・電子工学専攻
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中山 崇嗣
静岡大学工学部電気・電子工学科
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北嶋 哲也
静岡大学大学院理工学研究科
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遠藤 隆良
静岡大学大学院理工学研究科 電気電子工学専攻
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守永 和史
静岡大学大学院理工学研究科
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守永 和史
静岡大学工学部電気・電子工学科
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木浪 宏之
静岡大学工学部電気・電子工学科
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木浪 宏之
静岡大学 工学部 電気・電子工学科
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長谷川 誠
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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伊藤 友哉
静岡大学大学院理工学研究科
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渡辺 純平
静岡大学大学院理工学研究科
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渡辺 純平
静岡大学工学部電気・電子工学科
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齋藤 愿治
静岡大学工学部電気・電子工学科
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中山 崇嗣
静岡大学大学院理工学研究科
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高野 哲
(株)高見澤電機製作所
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齋藤 愿治
静岡大学工学部
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小林 篤人
株式会社高見澤電機製作所
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佐野 純
静岡大学工学部電気・電子工学科
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河村 隆行
静岡大学工学部電気・電子工学科
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鈴木 紀敦
静岡大学大学院理工学研究科
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内藤 愉孝
静岡大学大学院理工学研究科
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鈴木 隆佳
静岡大学
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鈴木 隆佳
静岡大学工学部
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藤田 政博
静岡大学
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宮野 竜一
静岡大学サテライト・ベンチャービジネス・ラボラトリー
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別宮 達二
静岡大学 工学部 電気・電子工学科
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別宮 達二
静岡大学工学部電気・電子工学科
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鈴木 久嗣
静岡大学工学部
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小林 篤人
静岡大学大学院電子科学研究科
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木波 宏之
静岡大学工学部
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山崎 亮
静岡大学工学部電気・電子工学科
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渥美 友裕
静岡大学大学院工学研究科
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秋田 雅人
千歳科学技術大学
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酒井 大輔
静岡大学大学院理工学研究科
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桑原 崇憲
静岡大学
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桑原 崇憲
静岡大学工学部
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中村 好延
静岡大学大学院理工学研究科 電気電子工学専攻
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伊藤 義訓
静岡大学工学部電気・電子工学科
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遠藤 隆良
静岡大学工学部電気・電子工学科
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冷水 健吾
静岡大学工学部
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渡辺 純平
静岡大学 大学院理工学研究科 電気電子工学専攻
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山崎 亮
静岡大学 大学院理工学研究科 電気電子工学専攻
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山崎 亮
静岡大学理工学研究科
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南野 良英
静岡大学工学部光電機械専攻
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秋山 健司
静岡大学工学部電気・電子工学科
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渡邊 隆志
静岡大学理工学研究科電気電子工学専攻
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中山 崇嗣
静岡大学理工学研究科電気電子工学専攻
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渡邊 隆志
静岡大学大学院理工学研究科
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徳永 伸一
静岡大学工学部
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藤田 政博
静岡大学大学院理工学研究科システム工学専攻
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大田原 茂
静岡大学工学部電気・電子工学科
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今吉 正樹
静岡大学工学部電気・電子工学科
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山崎 亮
株式会社Studio-L:京都造形大学
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平松 直樹
静岡大学 工学部 電気・電子工学科
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泉 一孝
千歳科学技術大学 光科学部 光応用システム学科
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杉本 和是
アンデン株式会社
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杉尾 匠
静岡大学工学部電気電子工学科
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山田 真宏
静岡大学工学部電気電子工学科
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山本 昇志
静岡大学工学部光電機械工学科
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杉尾 匠
静岡大学大学院工学研究科
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佐藤 憲一
静岡大学工学部
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平松 直樹
静岡大学工学部電気・電子工学科
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北嶋 哲也
静岡大学理工学研究科
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竹内 満
名古屋工業研究所
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伊藤 友哉
静岡大学理工学研究科
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内藤 愉孝
静岡大学理工学研究科
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藤田 政博
静岡大学工学部理工学研究科
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鈴木 博之
静岡大学工学部
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赤池 務
静岡大学工学部光電機械工学科
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中桶 悟光
静岡大学工学部共通講座
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向井 大輔
静岡大学理工学研究科システム工学専攻
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山崎 亮
(株)エス・イー・エヌ環境計画室
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高野 哲
静岡大学工学部システム工学科
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山田 芳郎
静岡大学工学部電気・電子工学科
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中桶 悟光
静岡大学工学部
著作論文
- 片持ち梁支持片の先端に取り付けた電気接点対におけるワイピング動作中のチャッタと転移突起との関係(機構デバイス)
- 直流20-500V/5-30A回路における開離時アークの諸特性(放電・EMC/一般)
- SC-3-2 DC 42V-7Ωと 5Ω抵抗性回路を開閉するリレー搭載 AgNi10% 電気接点対での転移突起観察
- 42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- C-5-11 陰極に埋め込まれた永久磁石によって回転駆動される開離時アークの継続時間と回転周波数(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 高沸点電極における真空アーク陰極足の特性値の比較
- 高沸点電極における真空アーク陰極足の特性値の比較
- Ag電気接点に埋め込まれた永久磁石によって磁気駆動される開離時アークの回転速度
- 直流20-500V/5-30A回路における開離時アークの諸特性(放電・EMC/一般)
- CS-7-4 直流抵抗性負荷回路内で永久磁石によって回転駆動される開離時アークの諸特性(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
- C-5-4 直流高電圧10A回路でのアーチ状開離時アークの諸特性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 直流42V/7-21A回路内の電気接点対間で発生する開離時アークの小形磁石による磁界駆動(放電・回路/一般)
- 直流42V/7-21A回路内の電気接点対間で発生する開離時アークの小形磁石による磁界駆動(放電・回路/一般)
- C-5-6 閉成責務動作接点対でのアーク足の存在場所(C-5.機構デバイス,一般講演)
- Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
- Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
- Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
- CS-5-4 接点開離直後の間欠的アーク放電の発生メカニズム(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
- C-5-2 リレー搭載の閉成責務動作接点対におけるスチッキング発生時前後の復旧時間の変化(C-5.機構デバイス,エレクトロニクス2)
- CS-5-3 片持ち梁支持片に載せたAgやAg/SnO_2の閉成責務動作接点対における分離時電圧波形(CS-5. 接触・接続技術の課題と今後の展望, エレクトロニクス2)
- リレー搭載閉成責務接点対でのスチッキング発生時の接点間電圧波形(機構デバイス)
- デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み(第2報)
- 銅電気接点対における開離時アークの分光特性
- 電気接点粘着力測定装置およびAu電気接点での測定結果
- Au電気接点でしゅう動回数が粘着力に及ぼす影響 (機構デバイスの新しい展開とその基礎論文小特集)
- Cu, Ni, Pd 電気接点対で発生する開離時アークの温度測定
- Cu, Ni, Pd電気接点対で発生する開離時アークの温度測定
- リレー搭載閉成責務動作接点対での分離時電圧波形 : 分離動作時のワイピング作用中のチャッター
- C-5-9 20A抵抗回路で閉成責務動作するリレー接点での分離不良の一原因(C-5.機構デバイス)
- 銅電気接点対での開離時アークの電圧・電流・温度・金属蒸気密度の関係
- 銅電気接点対での開離時アークの電圧・電流・温度・金属蒸気密度の関係
- SC-3-8 Cu 電気接点対における開離時アークの温度測定
- 開離時アークによる電極の消耗と転移量に関する一実験
- C-5-6 銀電極の開離時アークによる放射磁界
- 開離時アークによる電極の消耗と転移量
- 開離時アークによる電極の消耗と転移量
- C-5-5 PSDによる開離時アーク輝点の垂直移動距離の計測
- スイッチングアーク発光スペクトルの空間分布に関する研究(その9) : 銅開離時アークの分光計測
- スイッチングアーク発光スペクトルの空間分布に関する研究(その9) : 銅開離時アークの分光計測
- CCDカラーカメラと追加フィルタを使った銅開離時アークの分光測定
- 多重電離イオンを考慮した真空アーク陰極足1個を通過する電流範囲の理論的検討
- デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み
- デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み
- 銅電気接点での開離時アークの分光温度測定
- 銅電気接点での開離時アークの分光温度測定
- Cu電気接点におけるDC50V-10A回路遮断時のアーク温度分光測定
- 42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Ag接点開離時アークにおける開離速度と輝点運動と電圧波形との関係
- Ag接点開離時アークにおける開離速度と輝点運動と電圧波形との関係
- 開離動作毎のアーク輝点の移動範囲と接点表面状態の観察
- 銅電気接点対の接触面形状を変えた場合のアークスポット挙動の違い
- 開離動作毎のアーク輝点の移動範囲と接点表面状態の観察
- 銅電気接点対の接触面形状を変えた場合のアークスポット挙動の違い
- 高速度カメラによる開離時アークの発光分布計測
- 高速度カメラによる開離時アークの発光分布計測
- AgNi10wt%電気接点対の転移突起成長と電気的特性
- 直流42V-4.2A回路を開閉するAg系電気接点対における材料転移の方向について
- AgNi10wt%電気接点対の転移突起成長と電気的特性
- 直流42V-4.2A回路を開閉するAg系電気接点対における材料転移の方向について
- 直流42V回路を開閉する電気接点対の材料の違いによる突起の成長過程の比較・検討(「ショートノート」(卒業・修論特集))
- 14V-21A回路を開閉するリレー搭載Ag, Pd電気接点対でのアーク転移の方向について(「ショートノート」(卒業・修論特集))
- 直流回路を開閉する接点対に形成される転移突起の接触面上での位置と形状
- 直流回路を開閉する接点対に形成される転移突起の接触面上での位置と形状
- 直流14V及び42V回路内のAgSnO_2電気接点の転移突起に関する研究
- 直流14V及び42V回路内のAgSnO_2電気接点の転移突起に関する研究
- AuとCu電気接点対での開離時アークの分光測定
- 特定時刻に開閉する交流回路内電気椄点でのデータ分布
- 継電器電気接点の諸特性に及ぼす開閉動作間隔の影響
- 交流回路特定開閉時刻によるアーク諸特性へのワイブル分布関数の適用
- 継電器電気接点の諸特性に及ぼす開閉間隔の影響(その2)
- 継電器電気接点の諸特性に及ぼす開閉間隔の影響
- DC30V-Ω回路でのAg/CdO12wt%電気接点の責務動作と転移との関係
- 直流抵抗回路を開閉するAg-Cd系電気接点でのスイッチングアーク特性
- 開離時アークのインピーダンスの誘導方法について
- CuとAgの組合わせ電極対における開離時アークの放電光測定
- 先端部のみ並列配置の支持片に搭載された開閉電気接点対の諸特性
- 大気中銀電気接点遮断アークの可視光領域スペクトルの解析
- リレー搭載Pd電気接点対でのアーク転移の方向について : 直流42Vの4〜10A抵抗性回路を断続する場合
- Au電気接点での摺動距離, 摺動回数と粘着力の関係
- Au電気接点での摺動回数と粘着力の関係
- 100V交流負荷をAC3級試験で開閉する継電器電気接点の損傷面観察
- C-5-3 継続器搭載電気接点の損傷とバウンスと動作・復旧時間 : (その5) 42V-5Ω抵抗回路でのPd接点対の損傷
- 閉成責務電気接点における接触面損傷とバウンスの特性
- AgCdO12wt%電気接点対の突起成長と電気的特性
- 閉成責務電気接点における接触面損傷とバウンスの特性
- AgCdO12twq%電気接点対の突起成長と電気的特性
- C-5-4 継電器搭載電気接点の損傷とバウンスと動作・復旧時間(その1)スチッキング発生時のバウンス特性
- 継電器電気接点でのバウンスと転移突起の関係
- 制御継電器での電気接点損傷に関する数値評価研究 : (その21)電気接点材料が突起形状と電気的特性に及ぼす影響
- 制御継電器での電気接点損傷に関する数値評価研究 : (その21)電気接点材料が突起形状と電気的特性に及ぼす影響
- 制御継電器での電気接点損傷に関する数値評価研究 : その15)AgCdO12wt%電気接点対での開離責務接点の損傷と閉成責務接点の損傷との比較
- 制御継電器での電気接点損傷に関する数値評価研究 : その15)AgCdO12wt%電気接点対での開離責務接点の損傷と閉成責務接点の損傷との比較
- C-5-3 小型継電器電気接点間の開離時アークの分光スペクトル計測
- 小型継電器で発生する開離時アークの分光スペクトル計測 : その1. Pd電気接点対の場合
- 小型継電器で発生する開離時アークの分光スペクトル計測 : その1. Pd電気接点対の場合
- C-5-3 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究(その11) : 開離責務Ag/CdO接点での損傷面観察
- 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 (その2) : 閉成責務動作AgCd11wt%電気接点での転移突起観察
- CCDカラーカメラと追加フィルタを使った銅開離時アークの分光測定
- 閉成責務動作Ag/SnO_212wt%電気接点で陰極面にできる転移突起の変容に関する一観察
- 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 : (その8) Ag/SnO_212wt%電気接点対での閉成責務動作による転移突起
- 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 : (その8) Ag/SnO_212wt%電気接点対での閉成責務動作による転移突起
- 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 : その4)Ag/CdO12wt%電気接点対での閉成責務動作による転移突起
- 低速開離電極間でのスイッチングアークの物性値測定
- 低速開離電極間でのスイッチングアークの物性値測定
- 低速開離電気接点対におけるアーク放電の高速度カメラによる計測(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 低速開離電気接点対におけるアーク放電の高速度カメラによる計測(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 銅とニッケルの組み合わせ電気接点対における開離時アークの分光計測
- 電気接点対での開離時アーク特性 : 電圧・電流・アーク長の関係
- 電気接点対での開離時アーク特性 : 電圧・電流・アーク長の関係
- 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究:(その2)直流30V-10Aの抵抗性回路内のPd電気接点対での転移突起
- AuおよびAg電気接点での粘着力測定結果
- 電気接点での最大粘着力推定方法
- Au電気接点でのしゅう動前後の接触抵抗と粘着力の測定結果
- 電気接点粘着力測定装置の製作
- 電気接点の粘着力の測定
- 電気接点粘着力の試作測定装置の特性
- 閉成電気接点対の粘着力の計算 : その(1)原子間凝集力について
- C-5-1 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 : (その17) 開離責務動作Pd接点対における転移突起
- C-5-2 等速開離接点でのアーク継続時間と電源電圧との実験式
- Au,Ag,Cu,NiおよびPt電気接点対における等速開離時アークのV-I特性
- Au,Ag,Cu,NiおよびPt電気接点対における等速開離時アークのV-I特性
- リレー搭載の閉成責務動作電気接点での転移突起(フェロー受賞記念講演)
- 直流42V/7-21A回路内の電気接点対間で発生する開離時アークの小形磁石による磁界駆動
- C-5-5 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 : (その9) Ag/SnO_2電気接点対での転移突起の高さ
- SC-3-7 銀又は銅接点対の開離時アークの高速度カメラによる計測