制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 (その2) : 閉成責務動作AgCd11wt%電気接点での転移突起観察
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概要
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継電器搭載のAgCd11wt%電気接点対において、直流30V-10Aの回路で、スチッキング (sticking) を起こしやすい閉成責務動作を100,000回繰り返させ、1,000回動作毎に電気接点対間の突起を撮影した。転移で生じた陰極面上の突起は閉成責務動作回数の増加と共に大きくなる (太くなる、高くなる)。突起は始め楕円錐状であるが、その後頂点が丸い山形状となり、形状を変化させながら成長する。また、形成される突起は試料によって異なった形となった。この突起の成長過程と、バウンス1回当たりのアーク継続時間や接触抵抗との関係を比較した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-01-16
著者
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