Cu, Ni, Pd 電気接点対で発生する開離時アークの温度測定

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概要

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回路電流の違いが開離時アークの継続時間や温度に与える影響について調べるために、電源電圧DC42V-42V-7A, 8A, 10Aの回路内で、Cu、Ni、Pd電気接点を引き離した際に発生するアーク放電の電圧・電流・スペクトル強度を測定した。同じ電気的条件で、一試料毎に連続30回の開離時アークを発生させた。アーク電圧からアーク継続時間を求めた。ボルツマンプロットで局所熱平衡を確認し、スペクトル強度からアーク温度を測定した。回路電流が増加すると、CuとNiでのアーク継続時間は増加したが、Pdアーク継続時間はほぼ一定であった。一方で、Cuアーク温度は電流の変化の影響を受けなかった。Niアーク温度は、遮断電流7Aの場合に、他と比べて、高い温度であった。Pdアーク温度は遮断電流が10Aの場合は、他と比べ、温度が低かった。
社団法人電子情報通信学会の論文
2005-02-11

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