直流抵抗回路を開閉するAg-Cd系電気接点でのスイッチングアーク特性
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概要
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開離力15gfの実用継電器に搭載したAg、Ag, Cd012wt%及びAg/Cd11wt%の電気接点対でDC30V-3Ω抵抗回路を10万回開閉し、ロッキング故障を誘発した接触面損傷の原因であるスイッチングアークの継続時間を測定した。開離時アークは約0.6〜0.8msであり、転移突起は出来なかった(陽極消耗アークによる転移量が陰極消耗アークで消散した)。約0.1〜0.3msの閉成時アークで出来た転移突起が陰極面上に出現した。そのため、閉成責務動作と開閉両責務動作の場合に転移突起ができ、付着物の少ない突起面の場合にロッキングが生じたと判断
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-07-25
著者
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