中山 崇嗣 | 静岡大学工学部電気・電子工学科
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概要
関連著者
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中山 崇嗣
静岡大学工学部電気・電子工学科
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関川 純哉
静岡大学工学部電気・電子工学科
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静岡大学 工学部 電気・電子工学科
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静岡大学 工学部 電気・電子工学科
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山田 芳郎
静岡大学工学部電気・電子工学科
著作論文
- C-5-1 DC42V-6A 抵抗性回路内の継電器搭載 Pd 電気接点での転移方向
- 42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- C-5-1 継電器搭載電気接点の損傷とバウンスと動作・復旧時間 : (その6)Dc42V-5Ω抵抗回路内での閉成責務Ag/Cd012wt%接点にできた突起の観察)
- C-5-3 継続器搭載電気接点の損傷とバウンスと動作・復旧時間 : (その5) 42V-5Ω抵抗回路でのPd接点対の損傷
- 閉成責務電気接点における接触面損傷とバウンスの特性
- AgCdO12wt%電気接点対の突起成長と電気的特性
- 閉成責務電気接点における接触面損傷とバウンスの特性
- AgCdO12twq%電気接点対の突起成長と電気的特性
- C-5-4 継電器搭載電気接点の損傷とバウンスと動作・復旧時間(その1)スチッキング発生時のバウンス特性