AgCdO12wt%電気接点対の突起成長と電気的特性
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概要
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AgCdO12wt%電気接点対を継電器に搭載し、直流42V-5Ω抵抗回路内で閉成責務動作と、開離責務動作を個別に行い、動作毎アーク継続時間を測定し、1000回毎に転移突起を写真撮影した。閉成責務動作電気接点の陰極側に転移突起が成長した。転移突起が成長して、高さHが「H/Gap>0.5」になると開離不良が発生するようになった。また、突起の太さが大きい試料ほど、開離不良が発生するまでの動作回数が多くなる事がわかった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-02-08
著者
-
窪野 隆能
静岡大学工学部光電機械工学科
-
関川 純哉
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
中山 崇嗣
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
中山 崇嗣
静岡大学大学院理工学研究科
-
渡邊 隆志
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
関川 純哉
静岡大学工学部
-
渡邊 隆志
静岡大学大学院理工学研究科
-
窪野 隆能
静岡大学工学部
-
関川 純哉
静岡大学工学研究科
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