制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 : その4)Ag/CdO12wt%電気接点対での閉成責務動作による転移突起
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概要
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小型継電器に搭載したAg/CdO12wt%電気接点対(3.6mmφ)を直流30V-10Aの抵抗性回路内で閉成責務電気接点として使い、責務動作毎に電気的特性を測定し、さらに転移突起の成長過程を写真撮影した。転移突起は数千回の閉成責務動作で円錐台形状を肉眼で確認できる大きさとなり、その後は動作回数の増加と共に突起び高さH、足太さDf、中間部太さDhを変える。スチッキングを起こす際の突起形状として、「H/Dh≧1、H/Dh≧0.5」を予測した。スチッキングは1回の閉成時アークの計測時間が200〜500μsであっても、数万回の閉成時アークで(積算アーク継続時間で8〜10ms)ロッキングを起こすことがある。
- 1998-05-15
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