C-5-5 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 : (その9) Ag/SnO_2電気接点対での転移突起の高さ

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概要

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• 一般社団法人電子情報通信学会の論文
• 1999-03-08

著者

• 守永 和史

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 守永 和史

  静岡大学大学院理工学研究科

• 窪野 隆能

  静岡大学工学部

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