制御継電器での電気接点損傷に関する数値評価研究 : その15)AgCdO12wt%電気接点対での開離責務接点の損傷と閉成責務接点の損傷との比較
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概要
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2個の小型継電器に搭載したAg/CdO12wt%電気接点対を直流30V-10Aの抵抗性回路内で、閉成責務動作と開離責務動作を個別に行わせ、責務動作毎に電気的特性を測定し、さらに転移突起の成長過程を写真撮影した。閉成責務電気接点では転移突起ができ、開離責務電気接点では、突起は無く接触面が黒色の皮膜で覆われていた。転移突起と堆積物の形成にはそれぞれの電気接点で起きるアーク放電の、アーク継続時間、アークエネルギー、バウンス回数、接触抵抗が関係している。 スチッキングには溶着とロッキングがあるが、それぞれが独立して起こるのではなく、二つのスチッキング力の合計がが継電器の開離力を超えたときに生じると考えられた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-02-18
著者
-
窪野 隆能
静岡大学工学部光電機械工学科
-
渡邊 隆志
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
秋山 健司
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
守永 和史
静岡大学工学部電気・電子工学科
-
守永 和史
静岡大学大学院理工学研究科
-
窪野 隆能
静岡大学工学部
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