低速開離電気接点対におけるアーク放電の高速度カメラによる計測(<特集>機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

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概要

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低速開離時の銀接点間に発生する開離時アーク放電(電源電圧54V,通電電流10.8A)の発光の様相を高速度カメラ(1000コマ/s)で撮影した。また,アーク電圧・電流も同時測定した。その結果,開離時アーク発生後,ギャップ長が長くなるに従い,アーク柱に相当する部分の発光が徐々に弱くなっていくことが確認された。また,開離時アーク後半においてアーク電圧に大きな変動が現れる場合について,アーク放電の発光の様相とアーク電圧・電流との関係を考察した。その結果,その変動に同期してアーク放電の発光輝度が増大していることが分かった。さらに,この時のアーク放電の実効的な抵抗を計算すると,急激に減少していることが明らかとなった。
2003-02-14

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