澤 孝一郎 | 慶應義塾大学理工学部

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概要

• 同名の論文著者
• 慶應義塾大学理工学部の論文著者

関連著者

• 澤 孝一郎

  慶應義塾大学理工学部

• 澤 孝一郎

  慶應義塾大学

• 澤 孝一郎

  日本工業大学工学部

• 沢 孝一郎

  慶應義塾大学大学院

• 遠藤 薫

  日本サーボ株式会社

• 萩野 弘司

  日本サーボ株式会社

• 遠藤 薫

  和歌山アレルギー研究所

• 萩野 弘司

  日本サーボ

• 澤 孝一郎

  日本工業大学

• 沢 孝一郎

  慶應義塾大学

• 長谷川 誠

  千歳科学技術大学

• 王 軍

  日本サーボ株式会社

• 川上 洋介

  慶應義塾大学

• 村上 雅人

  芝浦工業大学大学院

• 富田 優

  鉄道総研

• 富田 優

  (財)国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所

• 村上 雅人

  芝浦工

• 和田 真一

  TMCシステム

• 園田 健人

  TMCシステム

• 越田 圭治

  TMCシステム

• ノロブリン サインダー

  TMCシステム

• 菊地 光男

  TMCシステム

• 久保田 洋彰

  TMCシステム

• ノロブリン サインダー

  Tmcシステム(株)

• 富田 優

  財団法人 鉄道総合技術研究所

• 澤 孝一郎

  慶應義塾大学大学院

• 澤 孝一郎

  慶応義塾大学:日本工業大学

• 越田 圭治

  TMCシステム株式会社

• 渡辺 克忠

  工学院大

• 渡辺 克忠

  工学院大学工学部電気システム工学科准教授

• 渡辺 克忠

  工学院大学

• 小林 辰也

  慶應義塾大学理工学部

• 大島 智

  慶應義塾大学理工学部

• 小林 辰也

  慶應義塾大学

• 玉井 輝雄

  兵庫教育大学

• 今泉 拓也

  慶應義塾大学

• 玉井 輝雄

  三重大:機構デバイス研究専門委員会

• 重森 崇

  慶應義塾大学

• 長谷川 誠

  千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科

• 玉井 輝雄

  三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室

• 坂井 直道

  超電導工学研究所

• 井上 浩

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 平林 泉

  超電導工学研究所

• 村上 雅人

  芝浦工業大学

• 若月 昇

  石巻専修大

• 富田 優

  鉄道総合技術研究所

• 高木 相

  東北大学:東北文化学園大学科学技術学部

• 高木 相

  東北文化学園大学

• 石田 広幸

  東北文化学園大学

• 高野 栄助

  コンサルタント

• 井上 浩

  秋田大:機構デバイス研究専門委員会

• 平林 泉

  SRL-ISTEC

• 藤田 浩由

  慶応義塾大

• 坂井 直道

  (財)国際超電導産業技術研究センター 超電導工学研究所

• 藤田 浩由

  慶應義塾大

• 平林 泉

  超電導工学研究所 線材研究開発部

• 石田 広幸

  東北文化学園大 科学技術

• 高木 相

  東北大

• 若月 昇

  石巻専修大理工

• 石田 広幸

  東北文化学園大学科学技術学部

• 石田 広幸

  東北文化学園大学科学技術応用情報工学科

• 渡辺 克忠

  工学院大学 工学部電気電子工学専攻

• 富田 優

  鉄道総合技術研

• 村上 雅人

  芝浦工大

• 高木 相

  東北大学

• 伊藤 寿浩

  東京大学

• 関川 純哉

  静岡大学

• 高橋 光弥

  田中貴金属工業

• 関川 純哉

  静岡大学工学部電気・電子工学科

• 村上 雅人

  国際超電導産業技術研究センター

• 村上 雅人

  低温工学編集委員会 材料グループ

• 山本 尚樹

  香川大学消化器外科

• 今泉 拓也

  久留米大学 医学部外科

• 福田 勝也

  慶應義塾大

• 稲村 慎吾

  慶應義塾大学

• 垣野 真吾

  慶應義塾大学理工学部

• 澤 孝一郎

  慶應大学:日本工業大学

• 山本 尚樹

  慶應義塾大学:超電導工学研究所

• 山本 尚樹

  慶應義塾大学

• 井上 浩

  秋田大学

• 坂井 直道

  国際超電導産業技術研究センター

• 小川 邦康

  慶應義塾大学理工学部

• 村上 雅人

  超電導工学研究所

• 上野 貴博

  日本工業大学

• 富田 優

  (財)鉄道総合技術研究所

• 服部 康弘

  オートネットワーク研

• 谷口 正成

  東北文化学園大学

• 本保 亮一

  株式会社デンソー

• 若林 宏之

  株式会社デンソー

• 村上 洋一

  株式会社デンソー

• 上田 信司

  株式会社デンソー

• 清瀬 顕三

  株式会社デンソー

• 加藤 尚樹

  株式会社デンソー

• 村上 洋一

  (株)デンソー

• 清瀬 顕三

  (株)デンソー

• 坂口 理

  田中貴金属工業技術部

• 箕輪 功

  玉川大学 工学部 電子工学科

• 谷口 正成

  東北文化学園大 科学技術

• 仲村 孝行

  慶應義塾大学

• 加藤 尚樹

  名城大学大学院理工学研究科

• 関川 純哉

  静岡大学 工学部

• 小川 邦康

  慶應義塾大学

• 村上 雅人

  超電導工学研

• 原 綱志

  慶應義塾大学

• Sekikawa Junya

  Faculty Of Engineering And Design Kyoto Institute Of Technology

• 上野 貴博

  日本工業大学工学部

• 若月 晃

  石巻専修大学理工学部情報電子工学科

• 箕輪 功

  玉川大 工

• 原 綱志

  慶應義塾大学理工学部

• 谷口 正成

  東北文化学園大

• 坂口 理

  田中貴金属工業(株)富岡工場材料開発セクション

• 箕輪 功

  玉川大学 工学部

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著作論文

• 整流火花に及ぼすブラシ-整流子間の接触荷重分布の影響(トライボロジー/一般)
• The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告(その2)
• The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts : 概容報告(その1)
• 21st International Conference on Electrical Contacts(第21回接点国際会議)概要報告(フェロー記念講演・一般)
• 2001年第47回IEEE電気接点ホルム国際会議報告
• C-5-5 YBCOと蒸着したAgの接触界面における抵抗測定(C-5.機構デバイス,一般講演)
• C-5-3 酸化物高温超電導体YBaCuOを用いた電気接点の接触子変形解析(C-5. 機構デバイス, エレクトロニクス2)
• 酸化物高温超電導体を用いた機械式スイッチの電気的接触特性に関する基礎研究
• (フェロー招待講演)スイッチングアークと接触信頼性(フェロー記念講演・一般)
• FEMによるスイッチトリラクタンスモータの温度解析(第2報)
• FEMによるスイッチトリラクタンスモータの温度解析
• スイッチトリラクタンスモータの鉄損解析および温度上昇に関する研究
• Au-Niメッキを施した電力伝達用小形スリップリングシステムの長寿命化に関する研究(トライボロジー/一般)
• 電力伝達用小型スリップリングの高信頼性化に関する研究(卒論・修論特集)
• C-5-8 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第13報) : モデリング(その5)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-7 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現状(第12報) : 接触抵抗(その9)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-11 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第10報) : モデリング(その4)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-10 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第9報) : 接触抵抗(その7)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-9 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第8報) : 接触抵抗(その6)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-8 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第7報) : 接触抵抗(その5)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-4 電力伝達用小形スリップリングの特性へのNiメッキ厚の影響(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• 電力伝達用小形スリップリングシステムの摺動特性経時変化の検討
• C-5-4 電力伝達用小形スリップリングの摺動特性の経時変化に関する研究(C-5.機構デバイス,一般講演)
• CS-5-4 電力伝達用小形スリップリング機構の摺動特性と劣化過程に関する研究(CS-5.信号・電力伝送用デバイスの信頼性とその課題,シンポジウム)
• 電力伝達用小形スリップリング機構の摺動特性と劣化過程に関する研究(「トライボロジー」)
• 電力用Auメッキリング-AgPdブラシシステムの接触抵抗劣化過程
• 電力用Auメッキリング-AgPdブラシシステムの接触抵抗劣化過程
• C-5-14 酸化物高温超電導体YBaCuOの電気的接触特性に関する基礎研究(C-5.機構デバイス)
• 酸化物高温超電導体YBa_2Cu_3O_の電気的接触特性に関する基礎研究
• C-5-6 銀蒸着したYBaCuO酸化物高温超電導接点のクエンチ特性(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• 第52回電気接点に関するIEEEホルム会議の概要報告
• CS-5-5 電磁コンタクタ用AgNi接点の陰極消耗評価法に関する研究(CS-5.信号・電力伝送用デバイスの信頼性とその課題,シンポジウム)
• C-5-2 電磁コンタクタ用Ag-Ni接点の陰極消耗量予測に関する研究(C-5. 機構デバイス, エレクトロニクス2)
• エタノール中直流モータ整流アークの基本特性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

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