石田 広幸 | 東北文化学園大学
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概要
関連著者
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石田 広幸
東北文化学園大学
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石田 広幸
東北文化学園大 科学技術
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石田 広幸
東北文化学園大学科学技術学部
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石田 広幸
東北文化学園大学科学技術応用情報工学科
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高木 相
東北文化学園大学
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谷口 正成
東北文化学園大学
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谷口 正成
東北文化学園大 科学技術
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谷口 正成
東北文化学園大
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高木 相
東北大
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高木 相
東北大学:東北文化学園大学科学技術学部
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高木 相
東北大学
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谷口 正成
東北文化学園大学科学技術学部応用情報工学科
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鈴木 祥介
東北文化学園大学
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鈴木 祥介
東北文化学園大学大学院
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谷口 正成
東北文化学園大学科学技術学部知能情報システム学科
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高木 相
東北大学工学部
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渡辺 義智
東北文化学園大学
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井上 浩
秋田大:機構デバイス研究専門委員会
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井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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久保田 啓義
東北文化学園大学
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井上 浩
秋田大学
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久保田 啓義
東北文化学園大学大学院
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佐々木 俊介
東北文化学園大学
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佐々木 俊介
東北文化学園大学大学院健康社会システム研究科
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佐々木 俊介
東北文化学園大学科学技術学部知能情報システム学科
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曽根 秀昭
東北大学情報シナジーセンター
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曽根 秀昭
東北大学
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長谷川 誠
千歳科学技術大学
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玉井 輝雄
兵庫教育大学
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澤 孝一郎
慶應義塾大学理工学部
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澤 孝一郎
慶應義塾大学
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玉井 輝雄
三重大:機構デバイス研究専門委員会
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玉井 輝雄
三重大学大学院工学研究科車載ネットワーク技術研究室
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渡辺 克忠
工学院大
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若月 昇
石巻専修大
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渡辺 克忠
工学院大学工学部電気システム工学科准教授
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高野 栄助
コンサルタント
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伊藤 寿浩
東京大学
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関川 純哉
静岡大学
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高橋 光弥
田中貴金属工業
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関川 純哉
静岡大学工学部電気・電子工学科
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渡辺 克忠
工学院大学
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澤 孝一郎
日本工業大学工学部
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若月 昇
石巻専修大理工
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上野 貴博
日本工業大学
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井上 浩
秋田大学 工学資源学部
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沢 孝一郎
慶應義塾大学
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荻野 隆行
東北文化学園大学科学技術学部
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坂口 理
田中貴金属工業技術部
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沖 允人
足利工業大学:足利工業大学総合研究センター
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沢 孝一郎
慶應義塾大学理工学部システムデザイン工学科
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須原 啓一
東京工業高等専門学校電気工学科
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長谷川 誠
千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科
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沖 允人
足利工業大学
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高木 相
東北大学 工学部 通信工学科
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鈴木 祥介
応用情報工学科
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石田 広幸
応用情報工学科
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谷口 正成
応用情報工学科
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上野 貴博
日本工業大学工学部
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井上 浩
秋田大学 大学院工学資源学研究科
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須原 啓一
東京工業高等専門学校
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須原 啓一
東京高専電気工学科
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沢 孝一郎
慶應義塾大
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坂口 理
田中貴金属工業(株)富岡工場材料開発セクション
著作論文
- CS-3-2 サーモグラフィとホログラフィによる電流通電に伴うプリント配線板用コネクタの熱ストレス評価(CS-3.機構デバイスとシステム信頼性,シンポジウムセッション)
- サーモグラフィとホログラフィによる電流通電時のPCB用コネクタの熱ストレス評価(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- 単一の接触点の接触抵抗と〓磨紙の粒度の関係に関する考察(材料デバイスサマーミーティング)
- Pdコンタクトにおける接触電圧のステップ的変化の観察
- 超微速度開離時の接触電圧変動の測定
- 低速開離時における電気接点のブリッジ現象と開離速度の関係に関する実験的検討
- 極低速度開離時における接点間ブリッジの観察(「ショートノート」(卒業・修論特集))
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告(その2)
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts : 概容報告(その1)
- C-5-12 Pd接点の微小ステップ的開離時におけるブリッジ長とブリッジ直径の電源電圧依存性に関する一実験(C-5.機構デバイス)
- C-5-11 接点の微小ステップ的開離における凸形接触電圧波形に関する考察(C-5.機構デバイス)
- Pd接点の微小ギャップに形成されるブリッジの観察(卒論・修論特集)
- 第21回コンタクトに関する国際会議 : ICEC-2002
- SC-3-4 Pd 接点開離時のブリッジの観察
- Ag,Pd接点加熱時における微小ステップ的開離時の接触電圧の観察
- SC-7-1 電気接点現象に及ぼす熱効果の計測
- C-5-3 デジタル画像計測システムによる摺動コンタクト表面の損傷解析
- 21st International Conference on Electrical Contacts(第21回接点国際会議)概要報告(フェロー記念講演・一般)
- Pdコンタクトの接触電圧の上昇に関する検討
- C-5-7 ホログラフィによる電流通電中のプリント配線板用コネクタの3-D熱変形解析(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- サーモグラフィとホログラフィによる電流通電時のPCB用コネクタの熱ストレス評価(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- サーモグラフィとホログラフィによる電流通電時のPCB用コネクタの熱ストレス評価(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- サーモグラフィとホログラフィによる電流通電時のPCB用コネクタの熱ストレス評価(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- 単一の接触点の接触抵抗と〓磨紙の粒度の関係に関する考察(材料デバイスサマーミーティング)
- 単一の接触点の接触抵抗と〓磨紙の粒度の関係に関する考察(材料デバイスサマーミーティング)
- 極低速度開離時における接点間ブリッジの観察
- 第20回ICEC(接点国際会議)報告
- D-11-162 光ファイバのスペックルノイズパターンの抽出とその変位量との関係について
- 「みやぎいいモノテクノフェア2005」に出展して(5-7 みやぎいいモノテクノフェア,対外活動)
- 数式処理システムRisa/Asirによる符号理論入門
- ステップ的微小ギャップ開離装置によるAg接点の接触電圧の観察
- C-5-2 Pdコンタクト低速開離時のアーク長の開離速度依存
- 第22回電気接点国際会議ならびに第50回ホルム会議 : ICEC2004
- C-5-1 電気接点のダークブリッジの生成と特性(C-5.機構デバイス)