低速開離時における電気接点のブリッジ現象と開離速度の関係に関する実験的検討
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概要
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著者らは, 電気接点のブリッジ現象を探求するために, 長さ1mの片持ち梁を利用した極低速度開離装置を開発してきた。極低速度0.05μm/sでパラジウム接点の開離をして, 光らないブリッジが接点ギャップに成長することを見出した。これまでの理論解析によって, 開離速度が、Pdの場合2μm/s以下であるならば, ブリッジが熱平衡状態になり, 光らないブリッジができるのではないかと推察された。本論文は, 開離速度を変化して光らないブリッジから光るブリッジに変わることを実験的に明らかにした結果を報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-05-13
著者
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
高木 相
東北大学
-
曽根 秀昭
東北大学情報シナジーセンター
-
谷口 正成
東北文化学園大学
-
高木 相
東北大学:東北文化学園大学科学技術学部
-
高木 相
東北文化学園大学
-
石田 広幸
東北文化学園大学
-
渡辺 義智
東北文化学園大学
-
井上 浩
秋田大:機構デバイス研究専門委員会
-
谷口 正成
東北文化学園大学科学技術学部応用情報工学科
-
谷口 正成
東北文化学園大 科学技術
-
井上 浩
秋田大学
-
石田 広幸
東北文化学園大 科学技術
-
石田 広幸
東北文化学園大学科学技術学部
-
石田 広幸
東北文化学園大学科学技術応用情報工学科
-
曽根 秀昭
東北大学
-
谷口 正成
東北文化学園大
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