銀接点低速開離時アークによるGHz帯までの電磁ノイズ計測(<特集>「ショートノート」(卒論・修論特集))
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概要
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電気接点の開閉時に発生するアーク放電は,電磁ノイズの発生源となる.発生した電磁ノイズが他の電子機器を妨害する可能性があるため,EMCは電気接点の重要な評価パラメータである.本論文では,接点開離時のアーク放電による電磁ノイズ発生のメカニズムを検討するために,電波暗室内でGHz帯までの電磁ノイズ計測を試みた.アーク放電による電磁ノイズの周波数特性から,共振特性は実験系のアドミタンス特性,振幅レベルは接点間電圧の違いによって決定されることを明らかにした.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-03-03
著者
-
萱野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
宮永 和明
秋田大学工学資源学部
-
中村 達也
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
宮永 和明
秋田大学
-
萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
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