C-5-7 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-03-05
著者
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
宮永 和明
秋田大学工学資源学部
-
高木 相
東北大学
-
萓野 良樹
秋田大学
-
井上 浩
秋田大:機構デバイス研究専門委員会
-
萓野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
宮永 和明
秋田大学
-
井上 浩
秋田大学 大学院工学資源学研究科
-
萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
関連論文
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(放送/一般)
- C-5-2 低速閉成時の接触電圧の電流依存性の測定(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-1 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの開離速度依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係(放電・回路/一般)
- B-4-36 コネクタに接触障害を有する伝送路からのコモンモード放射に関する一検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-31 ノイズ抑制シートを置いた筐体内PCBからの電磁放射の実験的検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- 外部磁界印加時の短時間アーク電流ノイズ計測(ショートノート(卒論・修論特集))
- B-4-47 PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その4) : 内部ノイズ源の配置位置の電磁放射への影響(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- C-5-7 銀系接点低速開離時に発生するブリッジやアーク継続時間への磁界印加の影響の一検討(C-5.機構デバイス,一般講演)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その3)(EMC 一般)
- B-4-48 PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その2)(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- CS-5-3 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの持続電圧と継続時間の関係(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
- 磁気インピーダンス素子を用いたキャリア型磁界プローブの性能向上に関する検討(卒論・修論特集)
- 銀パラジウム接点の低速開離時電極内熱伝導に関する検討(卒論・修論特集)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その2)
- 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その2)(プローブ関連,EMC対策/一般)
- 第24回電気接点に関する国際会議ICEC2008(フランス)概要報告(トライボロジ・一般)
- 食品画像提示による好み評価時の事象関連電位計測(BCI/BMIとその周辺)
- シールドを施したλ/4共振器の特性検討(その2)(若手研究者発表会)
- シールドをほどこしたλ/4共振器の特性検討(PCB・回路・シミュレーション, マイクロ波EMC/一般)
- マイクロストリップ線路を用いた2.4GHz帯のフィルタの特性の基礎検討
- 圧縮した超音波画像の品質評価法の提案
- BI-1-5 電気接点アーク現象におけるEMC 問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- BI-1-6 伝送線路の接触不良によるEMC問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- C-1-21 FDTD法と回路解析手法の連携による複数基板間を跨ぐ信号線の数値解析(C-1. 電磁界理論,一般セッション)
- B-4-60 FDTD-MAS法によるシールドケースを含んだ遠方電磁界算出精度についての一考察(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- 超微速度開離時の接触電圧変動の測定
- 低速開離時における電気接点のブリッジ現象と開離速度の関係に関する実験的検討
- 極低速度開離時における接点間ブリッジの観察(「ショートノート」(卒業・修論特集))
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告(その2)
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts : 概容報告(その1)
- 21st International Conference on Electrical Contacts(第21回接点国際会議)概要報告(フェロー記念講演・一般)
- 事象関連電位による画像品質評価のための課題に関する実験的検討
- ノイズによるテレビ画像劣化の主観評価と事象関連電位P300の関連に関する一検討(ヒューマンインフォメーション)
- D-7-4 バーストノイズによるテレビ画像劣化の評価時の事象関連電位P300と瞬目の同時計測(D-7. MEとバイオサイバネティックスA(バイオサイバネティックス), 情報・システム1)
- 事象関連電位P300を指標としたバーストノイズによるテレビ画像劣化の評価に関する実験的検討
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その5) : ノイズ波形の開離回数依存性(放電EMC/一般)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その3)(EMD関連,EMC/EMD/一般)
- 銀接点低速開離時アークによるGHz帯までの電磁ノイズ計測(「ショートノート」(卒論・修論特集))
- C-5-3 銀パラジウムのブリッジとアーク放電の積算電力と接点温度の関係(C-5.機構デバイス,エレクトロニクス2)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(サブミリ波技術/マイクロ波電力応用/一般)
- PVDF振動子による水中衝撃波検出 : 超音波と水中衝撃波による受波波形の比較・検討(圧電デバイス材料 強誘電材料 一般)
- 5〜50MHz帯におけるPVDF振動子の相互校正と自己校正の比較
- ベークライトバッキングした高分子圧電フィルム振動子の送受波感度の一計測
- US2000-33 / EMD2000-29 / CPM2000-44 / OME2000-39 相互校正法を用いた高分子圧電フィルム振動子の送受波感度の一計測
- PF-14 高分子圧電フィルム振動子による単極性超音波パルスの発生条件の検討
- PE-22 ボーリング孔からの地下水下砂中超音波映像化モデル実験
- 高分子圧電フィルム振動子による単極性超音波パルスの送受波に関する基礎研究
- OA5 高分子圧電フィルム振動子による単極性超音波パルスの送受波に関する基礎実験(基礎・物性,口頭発表)
- A-10-13 倍音に着目した和音の音高認識に関する一検討(A-10. 応用音響,一般セッション)
- B-4-75 PCB上の接地導体板による近傍磁界変化の一検討(その2)(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- 給電ケーブルで駆動されるPCBからの不要電磁波放射(PCB・回路・シミュレーション, マイクロ波EMC/一般)
- B-4-28 PCB上の接地導体板による近傍磁界変化の一検討(B-4.環境電磁工学,通信1)
- プリント回路基板のEMIとそのモデリング
- FPGAによるプログラマブルCNG(Composite Noise Generator)の試作
- B-4-34 フェライトコアの FD-FDTD モデル化に関する一検討
- フェライトのFD-FDTDモデル化における一手法
- D-7-21 テレビ画像上のバーストノイズの発生間隔が事象関連電位 P300 に及ぼす影響に関する一検討
- フェライトコア装着線路の周波数依存形 FDTD モデル(環境電磁・EMC)
- C-5-15 電極熱伝導率とホルダの切断時ブリッジへの影響に関する一検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 銀接点低速開離時電圧波形の特徴抽出に関する検討(放電・EMC/一般)
- D-7-11 瓶を例とした食品の外観評価時のERP計測(D-7.MEとバイオサイバネティックスB,一般セッション)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(その2)(一般講演)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(その2)(一般講演)
- BI-2-2 給電ケーブルで駆動されるPCBからの不要電磁波放射(BI-2.複合システムのノイズ問題を考える,ソサイエティ企画)
- C-5-4 コネクタ接触不良部の高周波等価回路に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その5) : ノイズ波形の開離回数依存性(放電EMC/一般)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その3)(EMD関連,EMC/EMD/一般)
- 低速開離時接点の熱伝導のブリッジへの寄与に関する検討
- スロットを周期的に形成した電源面を持つストリップライン構造からの不要電磁放射(ショートノート(卒論・修論発表会))
- 銀系接点低速開離時の短時間アークに関する一検討
- 散乱波法による誘電率測定におけるキャリブレーション手法(マイクロ波,EMC,一般)
- 散乱波法による誘電率測定におけるキャリブレーション手法(マイクロ波,EMC,一般)
- C-5-6 電気接点開離時の開離速度とブリッジ切断長の関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 音速測定における音波の位相シフトへの電源インピーダンスの影響 (最近の超音波応用デバイス論文特集)
- 圧電フィルムによる臥床者の体動検出の基礎実験
- 音速測定における変換器-試料境界での音波の位相シフトの電源インピーダンスの影響
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係(放電・回路/一般)
- 広帯域周波数応用のためのリング発振器を用いたVCOに関する一検討
- 銀接点低速開離時電圧波形の特徴抽出に関する検討(放電・EMC/一般)
- C-5-2 低速開離AgPd接点のPd含有率とブリッジの関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- CS-7-3 アルミニウム接点の開離速度がブリッジ生成に及ぼす影響に関する一検討(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
- C-5-7 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- 低速度開離接点の熱解析(その3) : 電極の温度上昇に及ぼすホルダー構造の影響(その3)
- 極低速度開離時における接点間ブリッジの観察
- 3)ノイズによるテレビ画像劣化の実験的研究(放送現業研究会)
- PVDF振動子による水中衝撃波検出 : 超音波と水中衝撃波による受波波形の比較・検討(圧電デバイス材料 強誘電材料 一般)
- PVDF振動子による水中衝撃波検出 : 超音波と水中衝撃波による受波波形の比較・検討(圧電デバイス材料 強誘電材料 一般)
- 5〜50MHz帯におけるPVDF振動子の相互校正と自己校正の比較
- 5〜50MHz帯におけるPVDF振動子の相互校正と自己校正の比較
- 5〜50MHz帯におけるPVDF振動子の相互校正と自己校正の比較
- US2000-33 / EMD2000-29 / CPM2000-44 / OME2000-39 相互校正法を用いた高分子圧電フィルム振動子の送受波感度の一計測
- US2000-33 / EMD2000-29 / CPM2000-44 / OME2000-39 相互校正法を用いた高分子圧電フィルム振動子の送受波感度の一計測
- US2000-33 / EMD2000-29 / CPM2000-44 / OME2000-39 相互校正法を用いた高分子圧電フィルム振動子の送受波感度の一計測
- 5)超音波パルスエコー法によるボーリング孔内からの地下水下礫表面の画像化の試み(〔情報センシング研究会 情報ディスプレイ研究会〕合同)(画像変換技術)
- 超音波パルスエコー法によるボーリング孔内からの地下水下礫表面の画像化の試み
- 超音波パルスエコー法によるボーリング孔内からの地下水下礫表面の画像化の試み
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作 (その2)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(放送/一般)
- ICチップ内配線の伝送及び電磁結合特性の一検討(マイクロ波/一般)