宮永 和明 | 秋田大学工学資源学部
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概要
関連著者
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宮永 和明
秋田大学工学資源学部
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井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
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宮永 和明
秋田大学
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井上 浩
秋田大学 大学院工学資源学研究科
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萱野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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萓野 良樹
秋田大学
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萱野 良樹
秋田大学
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高木 相
東北大学
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萓野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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井上 浩
秋田大:機構デバイス研究専門委員会
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中村 達也
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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井上 浩
秋田大学
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高木 相
東北大
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高木 相
東北大学 工学部 通信工学科
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高木 相
東北大学工学部
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井干 浩
秋田大学鉱山学部電気電子工学科
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萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究科電気電子工学専攻
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塙 真吾
秋田大学工学資源学部
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森 拓也
秋田大学工学資源学部
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塙 真吾
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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三浦 光
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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村岡 幹夫
秋田大学工学資源学部機械工学科
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宮永 和明
秋田大
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村岡 幹夫
秋田大学工学資源学部
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岡本 英之
秋田大院
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奥山 栄樹
秋田大
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奥山 栄樹
秋田大学工学資源学部
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高木 相
東北大学名誉教授
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村岡 幹夫
秋田大学
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宮永 和明
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
村岡 幹夫
秋田大
著作論文
- C-5-2 低速閉成時の接触電圧の電流依存性の測定(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-1 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの開離速度依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係(放電・回路/一般)
- 外部磁界印加時の短時間アーク電流ノイズ計測(ショートノート(卒論・修論特集))
- C-5-7 銀系接点低速開離時に発生するブリッジやアーク継続時間への磁界印加の影響の一検討(C-5.機構デバイス,一般講演)
- CS-5-3 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの持続電圧と継続時間の関係(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
- 銀パラジウム接点の低速開離時電極内熱伝導に関する検討(卒論・修論特集)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その2)
- BI-1-5 電気接点アーク現象におけるEMC 問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その5) : ノイズ波形の開離回数依存性(放電EMC/一般)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その3)(EMD関連,EMC/EMD/一般)
- 銀接点低速開離時アークによるGHz帯までの電磁ノイズ計測(「ショートノート」(卒論・修論特集))
- C-5-3 銀パラジウムのブリッジとアーク放電の積算電力と接点温度の関係(C-5.機構デバイス,エレクトロニクス2)
- ハニカム構造を利用した変位増幅圧電アクチュエータ(GS8 マイクロ/ナノ試験・薄膜)
- C-5-15 電極熱伝導率とホルダの切断時ブリッジへの影響に関する一検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 銀接点低速開離時電圧波形の特徴抽出に関する検討(放電・EMC/一般)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その5) : ノイズ波形の開離回数依存性(放電EMC/一般)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その3)(EMD関連,EMC/EMD/一般)
- 低速開離時接点の熱伝導のブリッジへの寄与に関する検討
- 銀系接点低速開離時の短時間アークに関する一検討
- C-5-6 電気接点開離時の開離速度とブリッジ切断長の関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係(放電・回路/一般)
- 銀接点低速開離時電圧波形の特徴抽出に関する検討(放電・EMC/一般)
- C-5-2 低速開離AgPd接点のPd含有率とブリッジの関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- CS-7-3 アルミニウム接点の開離速度がブリッジ生成に及ぼす影響に関する一検討(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
- C-5-7 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- 低速度開離接点の熱解析(その3) : 電極の温度上昇に及ぼすホルダー構造の影響(その3)
- 実験と計算による銀パラジウム開離接点電極の温度上昇の検討
- CS-2-7 異種材料接点対低速開離時のアーク継続時間に関する一検討(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
- 低速度開離接点の熱解析(その1) : 電極の温度上昇に及ぼすホルダー構造の影響(放電EMC/一般)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その4) : ブリッジと短時間アーク波形の特徴抽出
- 低速度開離接点の熱解析(その1) : 電極の温度上昇に及ぼすホルダー構造の影響(放電EMC/一般)
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係
- CS-5-5 カドミウム添加の銀系接点材料における開離時アークと接点温度(CS-5. 接触・接続技術の課題と今後の展望, エレクトロニクス2)
- 銀系接点材料におけるブリッジとアークによる熱現象(「ショートノート」(卒業・修論特集))