銀系接点低速開離時の短時間アークに関する一検討
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概要
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電気接点の開閉時に発生するアーク放電は電磁ノイズの発生原因となる.発生した電磁ノイズは電子機器を妨害する可能性があるため,電気接点を設計する上でElectromagnetic compatibility(EMC)は寿命,信頼性などと同様に重要な評価パラメータである.本論文では,銀系接点低速開離時に発生するGHz帯までの電磁ノイズの特性を開離現象と対応させて明らかにするために,ノイズの発生領域として1つめの短時間アーク放電に注目し,純粋なAg接点と化合物系のAg_<88.3>SnO_2接点の短時間アーク波形の比較による特徴抽出を試みた.Ag_<88.3>SnO_2接点に関する実験では,開離1回目には短時間アーク放電の発生が確認出来たが,1回目の開離から継続時間が4s程度と長い金属相及びガス相アーク放電も生じた.そして,2回目以降の開離では短時間アークは生じなかった.一方,Ag接点では開離回数7から8回目以降で継続時間が急激に長くなる現象が確認できた.高速カメラによる放電状態の観測から,短時間アーク放電による表面劣化の違いの影響の可能性が示唆された.
- 2010-05-14
著者
-
萱野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
宮永 和明
秋田大学工学資源学部
-
萓野 良樹
秋田大学
-
井上 浩
秋田大学
-
萱野 良樹
秋田大学
-
宮永 和明
秋田大学
-
井上 浩
秋田大学 大学院工学資源学研究科
-
萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
-
井干 浩
秋田大学鉱山学部電気電子工学科
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