萓野 良樹 | 秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
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概要
関連著者
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萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
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井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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井上 浩
秋田大学 大学院工学資源学研究科
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萓野 良樹
秋田大学
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萱野 良樹
秋田大学
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宮永 和明
秋田大学
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萱野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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宮永 和明
秋田大学工学資源学部
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萓野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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井上 浩
秋田大学
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井干 浩
秋田大学鉱山学部電気電子工学科
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高木 相
東北大学
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萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究科電気電子工学専攻
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中村 達也
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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柳澤 良介
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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井上 浩
秋田大:機構デバイス研究専門委員会
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柳澤 良介
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
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宮田 翔吾
秋田大学工学資源学部
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高木 相
東北大
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高木 相
東北大学 工学部 通信工学科
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高木 相
東北大学工学部
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駒木根 隆士
秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所
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駒木根 隆士
秋田県産業技術総合研究センター
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丹 健二
秋田県産業技術総合研究センター
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駒木根 隆士
秋田県産業技術センター
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田中 元志
秋田大学工学資源学部
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田中 元志
秋田大学 工学資源学部
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林 優一
東北大学大学院情報科学研究科
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曽根 秀昭
東北大学情報シナジーセンター
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森 拓也
秋田大学工学資源学部
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山川 清志
秋田県産業技術総合研究センター
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曽根 秀昭
東北大学サイバーサイエンスセンター
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山川 清志
秋田県産業技術総合研究センタ
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林 優一
東北大学大学院工学研究科
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曽根 秀昭
東北大学
-
山川 清志
秋田県産業技術セ
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塙 真吾
秋田大学工学資源学部
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勝間田 和輝
秋田大学工学資源学部
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佐々木 雄紀
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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萱野 良樹
秋田大学 工学資源学部
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中村 達也
秋田大学 工学資源学部
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宮永 和明
秋田大学 工学資源学部
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井上 浩
秋田大学 工学資源学部
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水木 敬明
東北大学情報シナジーセンター
-
水木 敬明
東北大学サイバーサイエンスセンター
-
塙 真吾
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
勝間田 和輝
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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林 優一
東北大学
-
水木 敬明
東北大学
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三浦 光
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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春日 貴志
長野工業高等専門学校
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小林 吾生
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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Kasuga Takashi
Nagano National College Of Technology
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井上 浩
秋田大学大学院工学資源学研究科
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小島 祐一
秋田大学工学資源学部
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丹 建二
秋田県産業技術総合研究センター
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森 拓也
秋田大学 工学資源学部
-
高山 司
秋田大学工学資源学部
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高木 相
東北大学名誉教授
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駒木根 陸士
秋田県産業技術総合研究センター
-
川島 琢也
秋田大学
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保原 秀康
秋田大学大学院工学資源学研究科
-
萓野 良樹
秋田大学大学院工学資源学研究科
-
小林 吾生
秋田大学大学院工学資源学研究科電気電子工学専攻
-
萱野 良樹
秋田大学大学院工学資源学研究科電気電子工学専攻
-
宮永 和明
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
萱野 良樹
秋田大学大学院工学資源学研究科
著作論文
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(放送/一般)
- C-5-2 低速閉成時の接触電圧の電流依存性の測定(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-1 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの開離速度依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係(放電・回路/一般)
- B-4-36 コネクタに接触障害を有する伝送路からのコモンモード放射に関する一検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-31 ノイズ抑制シートを置いた筐体内PCBからの電磁放射の実験的検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- 外部磁界印加時の短時間アーク電流ノイズ計測(ショートノート(卒論・修論特集))
- B-4-47 PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その4) : 内部ノイズ源の配置位置の電磁放射への影響(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- C-5-7 銀系接点低速開離時に発生するブリッジやアーク継続時間への磁界印加の影響の一検討(C-5.機構デバイス,一般講演)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その3)(EMC 一般)
- B-4-48 PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その2)(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- CS-5-3 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの持続電圧と継続時間の関係(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
- 磁気インピーダンス素子を用いたキャリア型磁界プローブの性能向上に関する検討(卒論・修論特集)
- 銀パラジウム接点の低速開離時電極内熱伝導に関する検討(卒論・修論特集)
- B-4-79 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズの電流依存性(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その2)
- 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その2)(プローブ関連,EMC対策/一般)
- CS-5-3 電源電力一定時の開離時電圧と接点温度上昇の関係の実験的検討(CS-5.信号・電力伝送用デバイスの信頼性とその課題,シンポジウム)
- C-5-3 パラジウム接点の接点温度上昇と開離速度の関係(C-5.機構デバイス,一般講演)
- BI-1-5 電気接点アーク現象におけるEMC 問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- BI-1-6 伝送線路の接触不良によるEMC問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その5) : ノイズ波形の開離回数依存性(放電EMC/一般)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その3)(EMD関連,EMC/EMD/一般)
- 銀接点低速開離時アークによるGHz帯までの電磁ノイズ計測(「ショートノート」(卒論・修論特集))
- C-5-3 銀パラジウムのブリッジとアーク放電の積算電力と接点温度の関係(C-5.機構デバイス,エレクトロニクス2)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(サブミリ波技術/マイクロ波電力応用/一般)
- 給電ケーブルで駆動されるPCBからの不要電磁波放射(PCB・回路・シミュレーション, マイクロ波EMC/一般)
- プリント回路基板のEMIとそのモデリング
- C-5-15 電極熱伝導率とホルダの切断時ブリッジへの影響に関する一検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 銀接点低速開離時電圧波形の特徴抽出に関する検討(放電・EMC/一般)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(その2)(一般講演)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(その2)(一般講演)
- BI-2-2 給電ケーブルで駆動されるPCBからの不要電磁波放射(BI-2.複合システムのノイズ問題を考える,ソサイエティ企画)
- C-5-4 コネクタ接触不良部の高周波等価回路に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その5) : ノイズ波形の開離回数依存性(放電EMC/一般)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その3)(EMD関連,EMC/EMD/一般)
- 低速開離時接点の熱伝導のブリッジへの寄与に関する検討
- スロットを周期的に形成した電源面を持つストリップライン構造からの不要電磁放射(ショートノート(卒論・修論発表会))
- 銀系接点低速開離時の短時間アークに関する一検討
- C-5-6 電気接点開離時の開離速度とブリッジ切断長の関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係(放電・回路/一般)
- 広帯域周波数応用のためのリング発振器を用いたVCOに関する一検討
- 情報機器筐体のEMC設計
- 銀接点低速開離時電圧波形の特徴抽出に関する検討(放電・EMC/一般)
- C-5-2 低速開離AgPd接点のPd含有率とブリッジの関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- CS-7-3 アルミニウム接点の開離速度がブリッジ生成に及ぼす影響に関する一検討(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
- C-5-7 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- 低速度開離接点の熱解析(その3) : 電極の温度上昇に及ぼすホルダー構造の影響(その3)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作 (その2)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(放送/一般)
- ICチップ内配線の伝送及び電磁結合特性の一検討(マイクロ波/一般)
- ICチップ内配線の伝送及び電磁結合特性の一検討(マイクロ波/一般)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その5) : PCBの配置による影響(マイクロ波/一般)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その5) : PCBの配置による影響(マイクロ波/一般)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(サブミリ波技術/マイクロ波電力応用/一般)
- 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その3)(サブミリ波技術/マイクロ波電力応用/一般)
- 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その3)(サブミリ波技術/マイクロ波電力応用/一般)
- 給電ケーブルで駆動されるPCBからの不要電磁波放射(PCB・回路・シミュレーション, マイクロ波EMC/一般)
- 実験と計算による銀パラジウム開離接点電極の温度上昇の検討
- 相互接続した表面マイクロストリップ線路構造からの電磁放射予測のための等価回路モデル(通信/一般)
- 表面マイクロストリップ線路構造からのCM放射予測のための等価回路モデル(マイクロ波/一般)
- CS-2-7 異種材料接点対低速開離時のアーク継続時間に関する一検討(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
- C-5-6 コネクタの接触状態が伝送特性に与える影響に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 差動励振モードによるF-SIR構造の負の群遅延特性に関する検討(放送,EMC,一般)
- 低速度開離接点の熱解析(その1) : 電極の温度上昇に及ぼすホルダー構造の影響(放電EMC/一般)
- 表面マイクロストリップ線路構造からのCM放射予測のための等価回路モデル(マイクロ波/一般)
- 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(プローブ・アンテナ関連, マイクロ波EMC/一般)
- 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(プローブ・アンテナ関連, マイクロ波EMC/一般)
- B-4-66 高周波キャリア型磁界プローブによる高周波磁界検出(B-4.環境電磁工学,通信1)
- 差動励振モードによるF-SIR構造の負の群遅延特性に関する検討(放送,EMC,一般)
- PCBに接続されたセミリジッドケーブルの同相電流の一シミュレーション(その2)
- PCBに接続されたセミリジッドケーブルの同相電流の一シミュレーション
- 非対称な電気接点対の寿命と信頼性に関する一検討
- C-5-7 銀とパラジウムの異種材料接点対の低速開離時アークに関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その4) : ブリッジと短時間アーク波形の特徴抽出
- 低速度開離接点の熱解析(その1) : 電極の温度上昇に及ぼすホルダー構造の影響(放電EMC/一般)
- ホルダ温度が低速開離接点時のブリッジとアークに与える影響 (放送技術)
- 低位相雑音PLLのための位相比較器の検出感度に関する一検討 (放送技術)
- CS-3-2 外部磁界印加時の低速開離アーク柱の観測(CS-3.コネクタおよび電気接点関連技術の最新動向-直流から高周波まで-,シンポジウムセッション)
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係
- 遮断周波数電圧可変型低域通過フィルタの開発研究(卒論・修論特集(ショートノート))
- 低位相雑音PLLのための位相比較器の検出感度に関する一検討(放送,EMC,一般)
- ホルダ温度が低速開離接点時のブリッジとアークに与える影響(放送,EMC,一般)
- CS-5-5 カドミウム添加の銀系接点材料における開離時アークと接点温度(CS-5. 接触・接続技術の課題と今後の展望, エレクトロニクス2)
- 銀系接点材料におけるブリッジとアークによる熱現象(「ショートノート」(卒業・修論特集))